CH-1-S薄膜测厚仪
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湖北银廷仪器有限公司
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CH-1-S/C H-1-SY压敏胶粘带测厚仪
一、 概述 MC022-CH-1-S型适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。 C H-1-SY用于压敏胶粘带测厚仪价格:1250
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。 二、主要参数 1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm 2. 上测头曲率半径:15-50mm 3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N 4. 测量精度:100vm以内<1vm 100-250vm<2vm 250vm<3vm
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