BMH-J3数显薄膜测厚仪/国产BMH-J3数显薄膜测厚仪的详细说明
BMH-J3简介: 本薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。 本薄膜测厚仪生产参照执行国家标准GB/T6672-2001。 一、BMH-J3技术资料: | 测量范围:(0-25)mm 分辨率:0.001mm 电源:氧化银电池SR44 工作温度:0℃~+40℃ 储运温度:-20~+70℃ 相对湿度:≤80% 数据输出任意位置置零公英制转换自动断电 | | | 二、 BMH-J3主要技术指标: 测量范围:(0-25)mm 分辨率:0.001mm 电源:氧化银电池SR44 工作温度:0℃~+40℃ 储运温度:-20~+70℃ 相对湿度:≤80% 三、BMH-J3主要功能: 数据输出 任意位置置零 自动断电 三、使用注意事项: 1、使用和检定前,请校对零位。 2、电子数显部件,须防止油、水或其它液体浸入。 3、测微螺杆和量面必须经常清洁,使用后可涂层防锈油。 4、是精密量具,应防止撞击,以免影响准确度。 5、微分筒移动距离应在刻度套管的刻线范围内,超出刻线不大于0.5mm。 6、*不使用时,应取出电池。 | |