薄膜测厚仪

CH-1-S薄膜测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-09-05 15:07:41
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东莞市华银试验仪器有限公司

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产品简介

银廷仪器

详细介绍

CH-1-S薄膜测厚仪/国产CH-1-S薄膜测厚仪的详细说明
     

 CH-1-S/C H-1-SY压敏胶粘带测厚仪

一、 概述
   MC022-CH-1-S型适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。       
C H-1-SY用于压敏胶粘带测厚仪价格:1250                                            

本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、主要参数
1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm
2. 上测头曲率半径:15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N
4. 测量精度:100vm以内<1vm
             100-250vm<2vm
             250vm<3vm

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