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仪器可用于金相、矿相、晶体、微电子等方面进行观察与分析研究等,是工厂、高等院校、科研机构入电子工业部门的*。采用了反射和透射两种照明形式,并配有落射偏光装置。在反射光照明下可进行明场和偏光观察,又可在透射光照明下作明场观察。稳定、高品质的光学系统满足您高要求的成像质量,宽阔的机身更现整体刚性, T 形的外观设计为您提供了稳定的基座。人性化的设计,简便的操作将您从繁重的工作压力中解放出来,从而让您全部的精力投入实验之中。
技术规格 | 型号 | |||||||
XSZ-146J | XSZ-146JT | XSZ-146JA | XSZ-146JAT | |||||
观察头 | 30 度铰链式双目头 ( 55mm -75mm ) | ● | ● | |||||
30 度铰链式三目头 ( 55mm -75mm ) | | ● | ● | |||||
目镜 | WF10 ×/ 20mm | ● | ● | |||||
WF10 ×/ 22mm | | | ● | ● | ||||
WF10 ×/ 20mm 带 0.1mm 十字分划板 | ○ | ● | ○ | ● | ||||
转换器 | 四孔转换器 | ● | ● | ● | ● | |||
物镜 | 195 金相物镜 | 4 × 0.1W.D .25mm | ● | ● | | | ||
10 × 0.25W.D .11mm | ||||||||
20 × 0.4W.D .9mm | ||||||||
40 × 0.6W.D. 3.8mm | ||||||||
无限远金相物镜 | 4 × 0.1W.D .25mm | ● | ● | |||||
10 × 0.25W.D .11mm | ||||||||
20 × 0.4W.D .8mm | ||||||||
40 × 0.6W.D. 3.8mm | ||||||||
50 × /0.75W.D. 1.9mm 80 × /0.9W.D. 0.9mm | ○ | ○ | ○ | ○ | ||||
平台 | 双层移动平台 | ● | ● | ● | ● | |||
平台尺寸 : 180mm ×150mm | ||||||||
移动范围 : 75mm × 50mm | ||||||||
聚光镜 | N.A1.25 阿贝聚光镜带可变光栏和滤色片 | ● | ● | ● | ● | |||
调焦 | 粗、微动同轴调焦,采用齿轮齿条传动机构,微动格值 0.002mm | ● | ● | ● | ● | |||
照明 | 落射柯勒照明,带孔径可变光栏和视场可变光栏 | ● | ● | ● | ● | |||
透明照明 12V/30W.AC85V-230V 亮度可调节 | ● | ● | ● | ● | ||||
偏光装置 | 检偏镜可 360 度转动,起偏镜检偏镜均可移出光路 | ● | ● | ● | ● | |||
滤色片 | 蓝色、绿色、黄色 | ● | ● | ● | ● | |||
检测工具 | 0.01mm 测微尺 | ● | ● | ● | ● | |||
可供附件 | 130 万、 300 万像素 CMOS电子目镜
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摄影装置 |
● 为标准配置 ○为选配件 |