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测量范围 | 薄膜厚度范围:1nm-300nm;折射率范围:1-10 |
测量厚度最小示值(nm) | ≤1 |
偏振器方位角范围 | 0°- 180°读取分辨率为0.05° |
偏振器步进角 | 0.014°/步 |
测量膜厚(nm) | ±1 |
折射率重复性精度 | ±0.01 |
度盘刻度 | 每格1度 |
仪器测量精度(nm) | ±0.5(薄膜厚度在10-100nm时) |
入射角调节范围 | 20°~90°精度为0.05° |
入射光波长(nm) | 632.8 |
光学中心高(mm) | 80 |
允许样品尺寸(mm) | φ10-φ140(或任意形状),厚度≤15 |
外形尺寸(mm) | 590*390*320 |
主机重量(kg) | 28 |
基本配置 | TPY-2 | 椭圆偏振测厚仪主机 | 1台 |
TPY-2 | 主机电控箱 | 1套 | |
二氧化硅膜样片 | 1片 | ||
TPY-2 | 椭圆偏振测厚仪专用软件 | 1套 | |
需另配 | 计算机及打印机 | 1套 |