CZB石英晶片频率分选仪GY3010A/GY-3010A

GY-3000系列

石英晶片频率分选仪

  本系列产品用于1～60MHz范围内石英晶片的谐振频率和晶片活力大小的测量和分选。

GY-3010A晶片频率分选仪

□　采用π网络电路，可根据激励电流的大小来进行晶片活力大小的分选。 

□ 频率测量范围： 1～60MHz（分六档）。

□ 七位频率显示。 

□　采用宽频振荡电路，操作简便。

□ 频率测量范围： 1～45MHz（分五档）。

□ 六位频率自动快速显示。

        GY-3020A晶片频率分选仪

□　一体化机箱，带条片测试架，适合研磨或条片的测试。

□ 频率测量范围： 1～45MHz（分五档）。

□ 六位频率自动快速显示。

        GY3010A晶片频率分选仪详细资料

1概述

GY3010A晶片频率分选仪是用于测量1~60MH_Z频率范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计直接显示（GY3010型须外接频率计），测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。

    1．1使用环境：

a. 环境温度：0~40℃；

b.      相对湿度：（20~90）%；

c.      大气压强：86~106 kPa。

1．2安全组别：属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。

1．3使用电源：220V±10%，50Hz。

1．4消耗功率：小于8 VA。

1．5外形尺寸：270mm（宽）×130mm（高）×310mm（深）。

1．6重量：约5 kg。

2      技术参数

2．1频率范围：1~60 MHz。

2．2频段划分：1~2.2 MHz

                        2.2~5 MHz

                                5~10 MHz

                                10~20 MHz

                                20~40 MHz

                          40~60 MHz

2．3频率计测量准确度：±5×10^-6。

2．4时基稳定度：3×10^–6／日[可选配高稳定度的恒温晶振（1~5）×10^–8／日]。

        GY3020A晶片频率分选仪详细资料

1 概述

GY3020晶片频率分选仪是用于测量1~45MH_Z频率范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计显示，测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。

1．1  使用环境：

a.环境温度：0~40℃；

b.相对湿度：（20~90）%；

c.大气压强：86~106 kPa。

1．2  安全组别：属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。

1．3  使用电源：220V±10%，50±1Hz。

1．4  消耗功率：小于6VA。

1．5  外形尺寸：

240mm（宽）×105mm（高）×300mm（深）（分体机）

150mm（宽）×85mm（高）×230mm（深）（连体机）

1．6  重量：约2.3 kg。

CZB石英晶片频率分选仪GY3010A/GY-3010A

    GY-3020晶片频率分选仪