x射线荧光光谱分析仪

x射线荧光光谱分析仪

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2023-07-29 16:14:09
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南京第四分析仪器有限公司.

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产品简介

x射线荧光光谱分析仪采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)以上的所有元素。

详细介绍

x射线荧光光谱分析仪技术参数

激发源                  高性能微焦斑光管,W靶,玻璃窗                                         

电压及功率         40 kV, 40 W                                                                                 

探测器                 大面积正比计数器,1100 mm²感应面积                              

光斑尺寸             准直器交换器,0.3 mm或以上                                               

样品观察            高分辨彩色摄像系统,放大倍数20-40倍                                

样品台                马达驱动Z方向样品台,自动对焦。                                       

                           选项:马达驱动X-Y-Z样品台,自动对焦,便捷进样功能 

定量分析             块状样品:基于标样的经验系数法模型和无标样模型       

                             镀层分析:基本参数法模型                                                    

电源:               110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率100 W                         

尺寸(宽x深x高)550 x 700 x 430 mm                                                           

重量                  46 kg    

                         M1 MISTRAL(SDD)

激发源             高性能微焦斑光管,W靶,玻璃窗

电压及功率     50 kV, 50 W

探测器             电制冷高性能XFlash® 硅漂移探测器,30 mm²感应面积,对Mn-Ka能量分辨率小于150 eV

光斑尺寸         准直器交换器,0.5 mm或以上

样品观察         高分辨彩色摄像系统,放大倍数20-40倍

样品台             马达驱动X-Y-Z样品台,自动对焦,便捷进样功能。

定量分析         块状样品:基于标样的经验系数法模型和无标样模型

                         镀层分析:基本参数法模型

电源:             110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率120 W

尺寸(宽x深x高)550 x 700 x 430 mm

重量                50 kg

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