太阳能电池薄膜分析设备

SMX-BEN太阳能电池薄膜分析设备

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-07-20 18:16:34
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上海益朗仪器有限公司

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产品简介

美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪

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详细介绍

美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪

产品特色
1.   *能提供NIST等级的标准样品,与美国NREL共同合作。
2.   超大样品室,H:56cmXW;54cmXD74cm
3.   可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数,可设定多点分析,以确定制程品
质。
4.   针对CIGS各种镀层材质的滤光片,共5种
5.    X-Y-Z三轴自动定位,轴承zui长距离为8”X8”X6”,并有自动聚焦弁?/div>
6.   具有表面相对等距自动调整系统
7.   采用自然光,LED白光,无色差
8.   采用高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器
9.   具有防撞安全装置
10. 具有操作时辐射安全装置
11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。
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