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KOWOTEST DUPLEX IQI-D13-D15双丝像质计
¥1000德国Kowotest 5槽楔 无损
¥1000英国 ETher nde Sigma Check2电导率仪
¥1000英国Ether NDE WeldCheck 2 EC探伤检测仪
¥1000美国EMTEK P100微生物采样器
¥1000Druck DPI 612PFX压力校准器
¥1000TSI 5300-5二氧化碳气体流量计
¥1000Pegasor PPS-M纳米颗粒传感器
¥1000MetOne Aerocet 531S粉尘仪
¥1000德国Inglas TIR100-2红外热发射率测定仪
¥1000美国MARK-10 Series 5数字测力计
¥1000MARK-10 TT02扭矩工具测试仪
¥1000JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
JIMA RT RC-04分辨率测试卡:
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm
芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm
图案布局:T型
线/空间尺寸:32种规格图案,
0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,
0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm,7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm
JIMA RT RC-05 X射线分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm
芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm
图案布局:T型 (3-10μm)
I 型 (15-50μm)
线/空间尺寸:16种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型)
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)