KR HVIR-T**M/T256M高压离子迁移测试系统

本装置是对印刷电路板或其他绝缘材料间的电路及焊盘，施加长时间的高压，测试其电子瞬间迁移的状况，并记录阻抗变化状况，可搭配高低温试验箱等环境模拟试验设备使用。 参考价￥200000

KR-MLR-T***M导通电阻测试系统

本装置是测量PCB或其他导通材料间的电路和焊点间的导通电阻测试，配合环境试验箱对待测产品进行耐久性能测试。 参考价￥200000

KX-328M信号检查机-C/Dphy点灯机NB屏高分辨率

信号检查机-C/Dphy点灯机NB屏高分辨率是专门设计用于MIPI讯号接口、不同尺寸的大中小型模组提供驱动电压和信号的设备。 参考价￥1

KTS环境试验-三箱式冷热冲击试验箱

环境试验-三箱式冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备， 用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害 参考价面议

KTK环境试验设备-快速温变试验箱

环境试验设备-快速温变试验箱适用于半导体、仪器、仪表、电工、电子产品，为电子零组件，成品、半成品、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价（快速变化） 参考价面议

KX-328MC/Dphy讯号检查机 点灯治具 NB屏高分辨率

C/Dphy讯号检查机 点灯治具 NB屏高分辨率：是专门设计用于中小液晶显示屏测试，用于不同接口、不同尺寸的小型模组提供点屏时所需电源、图形、视讯信号、GPIO等激励

l 满足多种单机测试及联机老化点屏测试应用场景 参考价￥1

BIST-FS定制化Aging板卡

定制化Aging板卡-BIST-FS支持同步驱动二片面板,支援BIST及Aging Mode机种,每组输出可提供CLK,可由user自由编辑, 提供多卡连接接口，方便控制,电源输出具有ocp及Fuse保护，安全性强,老化炉内高温情况下全时工作 参考价￥1

KX-180A定制化Aging板卡

定制化Aging板卡KX-180A 支持8路讯号同步输出,每CH支持8路电源输出,支持6路LED输出160mA/CH 参考价￥1

KX-937A定制化Aging板卡

定制化Aging板卡KX-937A支持驱动一片120Hz面板或二片60Hz面板，支持支持6/8/10 Bit，可编程Power On Sequence，支持电流电压在线监控，只支持Vanalog及Vpwm二种调光设定（Vdim） 参考价￥1

KX-737Aging板卡

Aging板卡KX-737支持LVDS讯号格式，支持24机种存储功能，方便切换机种，支持驱动上位机下载参数(Timing参数/Power及Pattern).支持操作状态及机种讯息显示，支持分辨率至 WQHD (2560X1600） 参考价￥1

JQ-170E讯号检查机-点屏专用PG

讯号检查机-点屏专用PG:JQ-170E采用便携式设计(160mm X 110mm X 30mm)，支持分辨率 1920X1200 (Max)，具有静电防护，讯号隔离等保护，适用Mipi讯号.支持BM图片及视频播放 参考价￥1

JQ-160E讯号检查机-点屏测试专用PG

讯号检查机-点屏测试专用PGJQ-160E采用便携式设计(160mm X 110mm X 30mm)，支持分辨率至1920X1200 (Max)， 具有静电防护，讯号隔离等保护，适用LVDS/RGB讯号，支持BMP图片及视频播放 参考价￥1