Z-800 激光合金分析仪
- 测试速度快,精确测试数据即时显示
- 仪器使用安卓操作系统,测试报告可同步直接上传至手机或PC
- 采用14.4V可充电锂电池,保障8-10小时甚至更长的工作时间,或可同时使用110V/220V AC电源供电
- 重量小于2Kg(含电池、内置氩气瓶),可以在各种场地进行快速分析工作
- 氩气瓶设计,内置于手柄内,安全美观
- 氩气净化技术,使氩气消耗量降低,每只氩气瓶可提供约600次的测试
- 开机速度快,无需长时间预热
- 对操作人员无专业要求,简单易用
- 激光发生器、CCD光学系统,使用、维护成本低
- 微小的测试斑点,斑点直径<50μm,烧蚀深度<10μm
- 选配与出气软管匹配的连接阀门,可外接氩气罐测试
- 自动计算碳当量,快速判断材料的焊接性能
仪器性能
- Z系列手持式LIBS激光分析仪,作为SciAps的产品,可用于金属样品的定性和定量分析。
- CCD光路设计,使用激光光源、内置氩气瓶设计,结合谱图解析技术,得到的数据可足以与台式OES相媲美。
- 对于极轻的元素如碳C、锂Li、铍Be、硼B等均能测得精确的检测结果。
应用
常规含号及成份分析 - 广泛应用于管材、阀门、焊缝、压力容器及其配件PMI检测
天然气管道及其部件的合规检测(PMI) - 符台美国石油学会(API)的推荐规程(RP)578一用于新型和现有合金管道系统的材料验证程序。被确认为金属材料中的碳含量的定量检测设备。
- 快速识别L和H级别的不锈钢,如316和316L,304及304L。
- 炼化厂硫化物腐蚀分析,可3秒识别金属中低至0.02%的Si。
- 流动加速腐蚀分析,几秒识别金属中的低至0.03%的Cr。
自动计算金属的碳当量,快速判断材料的可焊性 - 低合金中碳和合金元素对合金的焊接性的影响是不同的,碳的影响大,其他合金元素可以折合成碳的影响来估算被焊材料的焊接性,换算后的总和称为碳当量。
- 碳当量越大,焊接性能就越差。碳当量小于0.4%时,焊接性良好;在0.4~0.6%时,焊接性差,焊接时需要预热并采取其他措施防止裂纹;大于0.6的话,焊接时需要较高的预热温度和严格的工艺措施。
快速分拣铝含金 - 常见铝合金6061、 6063合1100、3003、 3005、 3105在1秒钟内就可以区分识别。其他技术确认一个牌号就需要30秒或更多的时间,有效的区分这三种台金需要长时间。
- 能快速识别细微差异的合金如2014、2024;7050、7075。
其他应用 - 分析其它手持设备不能检测的金属(Li、Be、B、Na)和非金属元素,例如识别铍铜合金、铝钛硼合金、锂铝合号。
- 因LIBS检测斑点小,为较小较薄材料、镀层、焊缝成份的检测提供了有效快速的检测手段。
- 新材料研发,例如分析陶瓷中的F、C、H、0、Na。
- 适合大学校园实验室研究及教学的原子光谱教学教具。
- 实验室ICP、AAS等前期样品快速删查。
- 各类检测。
废料分拣与回收 用于废料分拣的SciAps手持式XRF & LIBS分析仪可在1到2秒钟时间内对大多数合号和纯金属进行可靠的辨别。仪器的机身设计坚固耐用,可在恶劣的环境中正常操作。针对在数秒之内核查含铁金属、非铁金属、玻璃及塑料等各种材料的应用,这款分析仪是一款理想的工具。
流动加速腐蚀(FAC) 跟踪监测合金碳钢管道的行业标准,可在现场快速无损的检测合金碳钢管道的成分含量,并具有低铬、铜、镍、钼等元素的检出限,为电厂、石油石化等企业减少停机时间,节约成本,降低事故的发生几率。
可在各种恶劣环境下进行现场测试
对于工厂、仓库、高塔、野外、工地、桥梁、井下、码头等复杂现场或金属材料尺寸过大、难以取样,需要现场检测材料成份及含碳量的应用来说,手持式LIBS激光光谱分析仪使得检测工作变得简单。
多种氩气瓶的安装方式
内置胶囊氩气瓶 SciAps LIBS使用激光获得等离子体光谱,采用氩气净化功能,能提供精确的化学分析结果、低检测限(0.003%),可携带的小巧氩气瓶可提供高达600次测试。不用时,气瓶出口被密封,没有气体消耗。仪器可外接氩气罐,通过连接与出气软管匹配的连接阀门便可将氩气罐中的氩气接入仪器。
SciAps LIBS还可以采用可充气式胶囊气瓶和外置气瓶的安装方式,使得SciAps LIBS能够适应各种条件下的测试要求。
模式、元素、测量基体、牌号
模式Alloy C+的曲线、元素、基体、牌号 - 不锈钢C含量检测专业分析曲线:C、Si、Al、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo、Se、W。
- 铁基合金C含量检测专业分析曲线:C、Si、Al、Ti、V、Cr、Mn、(不同含量Fe)、Co、Ni、Cu、Nb、Mo、W、Pb。
- 测量基体:包含但不限于碳钢、低碳钢、高碳钢、铝合金、低合金钢、不锈钢、铸铁等项目。
- 标准库中有标准合号高达800多种,用户可自定义符合特殊要求的非标牌号可高达几百种。
微区微点测试 - 激光测试点小,激光光斑烧蚀深度仅10μm,SciAps 激发斑点不大于50μm,可以直接分析线路板上的肉眼难以分辨金手指,也是检测焊点、焊缝的有效工具。
- 配合高清摄像头,针对焊接点测试快速效率。
安全及低廉的使用成本 - 激光等级为光学3B级,安全,没有危害。
- 无X射线管,无电离辐射,无需接受辐射监管。
- 氩气瓶内藏式设计,氩气瓶置于仪器手柄内,安全美观。
- 操作安全,支持操作员手拿样品测试。
- CCD传感器,测试窗口为蓝宝石材质,高强度,能有效避免XRF探测器因屑,条状等各类不规则金属加工尾料样品刺破检测窗。
校准与扩展 - 内置316材质校正片于检测窗口,可自动针对当下环境(温度、压力)进行波长校正,无需更换,不怕遗失。
- SciAps测试模式生成软件(PB)可建立用户添加新元素,扩大校准曲线测试范围,或添加校准曲线。用户所建或是习惯使用的在OES仪器上的测试标准都可以添加到Z上。
- 碳当量公式和计算(CE),Mn:C比列及剩余元素总量碳含量校验校准样品和谱线漂移校正样品。
安卓操作平台
直观的数据管用,用户化安卓系统,用户体验轻松、直观、简单,系统易升级,有WIFI、蓝牙、USB等数据传输方式和内置GPS,允许检测报告在仪器与手机、PC之间无缝连接并共享,能在安卓平台运行软件,就可以在SciAps的LIBS上运行。
技术规格
分析环境: | 空气、氩气双模式工作;环境温度:-10℃-40℃ |
尺寸重量: | 210×292×114mm;<2Kg(含锂电池、内置氩气瓶) |
激光源: | Z-200C+ : 5 mj/pulse,50赫兹频率,1064 nm激光源 Z-600 : 6 mj/ pulse,50赫兹可调节频率,1064 nm激光源 Z-800 : 8 mj/ pulse,50赫兹可调节频率,1064 nm激光源 |
碳检出限: | Z-200C+ : 0.01% Z-600 : 0.007% Z-800 : 0.003% |
碳精度: | Z-200C+ : 0.01% Z-600 : 0.007% Z-800 : 0.003% |
碳检出限: | Z-200C+ : 0.02 %±0.01%;0.2% ±0.05% Z-600 :0.02 %±0.006%;0.2% ±0.03% Z-800 :0.02 %±0.003%;0.2% ±0.01% |
碳分析时间: | | 合金分析 | 碳分析 | Z-200C+ | 1秒 | 20-30秒 | Z-600 | 1秒 | 15-20秒 | Z-800 | 1秒 | 10-15秒 | |
标配元素: | Z-200C+ : C、Al、Si、 Ti、 V、 Cr、 Mn、 Fe、Co、Cu、 Ni、 Nb、 Mo、 W、 Pb等。 Z-600 : C、Li、 Be 、B、Mg 、Al 、Si 、Ti 、V 、Cr 、Mn 、Fe 、Co 、Ni 、Cu 、Nb 、Mo 、Ag 、Cd 、Sn 、Sb 、Se、W 、Pb等。 Z-800 : H、N、O、 F、 Cl、Br、Rb、Ce、K、S、C、Li、 Be 、B、Mg 、Al 、Si 、Ti 、V 、Cr 、Mn 、Fe 、Co 、Ni 、Cu 、Nb 、Mo 、Ag 、Cd 、Zn、Zr、Sn 、Sb 、Se、W 、Bi 、Pb等。 |
全元素分析模式: | Z-200C+ 不含 Z-600 不含 Z-800 1秒内,定性分析从H-Pu的所有元素(即全元素分析)。 |
检测合号: | ≥ 800 个 |
升级与否: | Z-200C+ 不可升级 Z-600 可升级至Z-800 Z-800 可新增其他应用模式(比如矿石,液体等) |
检测器类型: | CCD |
分析波长: | Z-200C+ 190-625nm Z-600 190-625nm Z-800 190-950nm |
测试斑点大小: | 斑点直径<50μm,烧蚀深度<10μm |
激光器寿命: | 激光源可激发10亿次或100万小时 |
激光等级: | 光学3B级,对人眼无损害 |
检视窗口: | 高强度蓝宝石玻璃,可有效避免窗口膜损坏 |
显示屏: | 5寸触摸屏;Power VR SGX540 3D图形显示 |
摄像头: | 内置高清相机及视频系统,可精确微区分析 |
数据交换: | CSV、PDF格式 |
传输: | wifi、USB、蓝牙、GPS |
SD卡内存: | 8G |
冷开机预热时间: | (碳测试模式下):冬季:8-10分钟;夏季:小于1-2分钟 (合金测试模式下):即开即用 (全元素测试模式下):即开即用 |
氩气瓶的安装类型: | 一次性胶囊气瓶、可充气胶囊气瓶、外置气瓶 |
电池: | 可充电锂电池,连续激发>5小时,正常工作>8小时 |
处理器: | ARM A9双核;1.2GHz;1G DDR2;1G NAND |
操作系统: | 中文 Android系统 |
SciAps赛谱司简介 SciAps,Inc.(美国赛谱司)始于1998年,总部位于美国波士顿,专注于便携式元素分析光谱研发。2017年成功研发出手持式LIBS激光诱导击穿光谱分析仪。
产品研发历史 - 1998年研发出基于Windows 平台的手持式XRF分析仪;
- 2004年推出第二代手持式XRF分析仪;
- 2009年推出第三代手持式XRF分析仪,广泛应用于矿山等恶劣环境应用;
- 2010年推出第四代手持式XRF分析仪;
- 2017年研发出手持式LIBS激光诱导击穿光谱分析仪,可准确测试L级不锈钢、低合金钢或碳钢中的碳(C)含量;
- 2018年推出第五代手持式XRF分析仪,基于Android平台的手持式XRF分析仪,产品更加轻巧,更加智能化;
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