Langer射频耦合套组（IC测试系统）

品牌：Langer EMV-Technik   

型号：P1402/P1502 set

射频场注入至3GHz

Langer射频耦合套组（IC测试系统）P1402/P1502 set介绍：

P1401/P1501机组或 P1402/P1502机组可分别用于测量1GHz 和3GHz 频率范围内的集成电路(IC)对磁场和电场的抗扰度。P1401或 P1402场源用于产生磁测试场，P1501或 P1502场源用于产生电测试场。通过使用间隔环将各自的场源定位在测试集成电路的上方，然后将其测试场施加到集成电路上以测量其对干扰的抗扰性。

Langer射频耦合套组（IC测试系统）P1402/P1502 set配置:

1x P1402, 高频磁场源（~3GHz）

1x P1502, 高频电场源（~3GHz）

1x D70 h03

1x D70 h10

2x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 测量电缆

1x FKE 30

1x P1402 / P1502 case, System case

1x P1400 / P1500 m

简短的介绍：

P1402型高频磁场源（~3GHz）：磁场源检测集成电路在高频磁场下的抗干扰性。受测集成电路处于工作状态。P1402型磁场源与功率放大器和高频信号发生器连接使用。

P1502高频电场源（~3GHz）：P1502型电场源检测集成电路在高频电场下的抗干扰性。受测集成电路处于工作状态。P1502型电场源与功率放大器和高频信号发生器连接使用。