高频红外碳硫分析仪HW2000型

主要技术指标测量范围：碳（C）0.000001%~99.999%　　　　　硫（S）0.00001%~99.999%测量池：测碳两池体 参考价面议

高频红外碳硫分析仪HW2000S型

主要技术指标测量范围：碳（C）0.000001%~99.999%硫（S）0.000001%~99.99%测量误差：碳、硫均符合GB/T20123-2006/ISO15350:2000标准或用相对标准偏差（RSD）表示碳：RSD≤0.5%硫：RSD≤1.0%灵敏度：0.01ppm分析时间：25~60s可调 参考价面议

高频红外碳硫分析仪HW2000B型

主要技术指标测量范围：碳（C）0.00001%~99.999%　　　　　硫（S）0.00001%~99.99%分析时间：25~60s可调 参考价面议

高频红外碳硫分析仪HW2000Y型

主要技术指标测量范围：碳(C)0.00001%~99.999%　　硫(S)0.00001%~99.999%分析时间：25~60s可调 参考价面议

高频红外碳硫分析仪HW2000C型

主要技术指标测量范围：碳（C）0.00001%~99.999%　　　　　硫（S）0.00001%~99.999%分析时间：25~60s可调 参考价面议

高速引燃炉红外碳硫分析仪HW2000G型

主要技术指标测量范围：碳(C)0.0050%~10.000%(可扩至99.999%)　硫(S)0.0005%~0.3500%(可扩至99.999%)分析时间：30s左右分析误差：碳符合GB/T223.69-97标准　硫符合GB/T223.68-97标准主要性能特点Windows中文彩面操作软件电子天平联机不定量称样软件功能强 参考价面议

高频红外碳硫分析仪HW2000K型

主要技术指标测量范围：碳（C）0.00001%~99.999%　　　　　硫（S）0.00001%~99.999%分析时间：25~60s可调 参考价面议

高压管状炉红外碳硫分析仪HW2000F型

主要技术指标●测量范围：碳ω（C）0 参考价面议

全谱直读光谱仪HGP-9800C型

HGP9800C直读光谱仪创造性地结合的氩循环技术；分析铁铝基体材料，能快速准确定量分析，金属材料质量控制和科学研究的理想解决方案 参考价面议

全谱直读光谱仪HGP-9800型

主要技术指标主要用于：Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Sn等多种基体元素 参考价面议

全谱直读光谱仪HGP9800B型

主要技术指标主要用于：Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Sn等多种基体元素 参考价面议

能量色散X荧光光谱仪EDX8600H型

主要技术指标分析范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围：2ppm到99.99%测量时间：100s能量分辨率：129±5电子伏特适应温度：15℃~30℃相对湿度：40%~70%电源：AC220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）主要性能特点1.采用美国新型SDD硅漂移探测器，电制冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低 参考价面议