半导体推力测试仪是微电子和电子制造领域的重要仪器设备，它在测试精度、重复性、可靠性、操控性和外观设计等方面，均达到高的水平。主要是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器。键合拉力测试仪LED芯片推力测试机

　　该设备广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件，其动态特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性，直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的动态性能具有重要的实际意义。用于测试小型卫星的推力系统。它可以测量有效推力、推力稳定性和推力变化率等关键参数。键合拉力测试仪LED芯片推力测试机

产品优势：

1.采用测试工位自动模式，在软件选择测试工位后，系统自动到达对应工作位。

2.三个工作传感器，采用独立采集系统，保证测试精度。

3.每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统。

4.每项测试工位采用独立安全限位及限速功能。

5.人性化的操作界面，人员操作方便。

6.高精度传感系统结合力学算法，确保测试的精度。

产品特点：

1.采用精密动态传感采集技术，确保测试数据精度的真实性。

2.采用进口传动部件，确保机台运行稳定性及测试精度。

3.三工位自动旋转切换，避免因人员误操作带来的设备损坏。

4.霍尔双摇杆四向操作，让操作简单、方便。

5.匹配工厂MES系统。

6.测试数据实时保存与导出，方便快捷。

测试参数：

设备型号: LB-8500L

外形尺寸: 1500mm*1200mm*1650mm

设备重量: 约 800KG

电源供应: 110V/220V@5.0A 50/60Hz

气压供应: 4.5-6Bar

控制电脑: 联想/惠普原装 PC

电脑系统: Windows7/Windows10 正版系统

显微镜: 标配三目连续变倍显微镜+高清 CCD 相机

传感器更换方式: 手动更换（根据测试需要选择相应的测试模组，软件自动识别模组量程）

平台治具: 360 度旋转，平台可共用各种测试治具

XY 轴丝杆有效行程: 500mm*300mm，测试力 100KG

XY轴移动速度: 采用霍尔摇杆对 XY 轴自由控制，移动速度为 10mm/S

XY 轴丝杆精度: 重复精度±5um 分辩率≤0.125 ；2mm 以内精度±2um

Z 轴丝杆有效行程: 100mm 分辩率≤0.125um，测试力 20KG

Z 轴移动速度: 采用霍尔摇杆对 Z 轴自由控制，移动速度为 8mm/S

Z 轴丝杆精度: ±2um 剪切精度：2mm 以内精度±1um

传感器精度: 传感器精度±0.003%；综合测试精度±0.25%

设备治具: 根据样品或图纸按产品设计治具（出厂标配一套）

设备校正: 设备出厂标配相应校正治具及砝码一套

质量保证: 设备整机质保 2 年，软件升（人为损坏不含）