X射线衍射仪

X射线衍射仪

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2023-05-12 07:29:35
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常州华帜仪器科技有限公司

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产品简介X射线分析仪器包括X射线衍射仪、X射线晶体分析仪、X射线晶体定向仪

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 X射线分析仪器包括X射线衍射仪、X射线晶体分析仪、X射线晶体定向仪。其中TD系列衍射仪是将进口可编程序控制器技术及模块化设计理念融入到该产品设计中,它的三重无干扰隔离保护方案,使该仪器性能更加,故障率极低,并延长整机使用寿命。已在全国各大、专院校科研院所及全国钛白企业广泛使用,并受到使用单位的。TD系列X射线衍射仪以其*的控制功能、完善的数据处理软件以及高精度的测试结果,在国内同类仪器居于水平。
针对生产钛白粉企业用户的特殊要求,本公司特研发一套测量钛白粉含量的专用程序, 可对钛铁矿、金红石型钛白粉、锐钛型钛白粉、进口钛渣四种样品,分别进行3次连续扫描,测量样品中的金红石,测量结果的误差范围小于0.2%。
我公司生产的型X射线衍射仪与其他公司生产的衍射仪相比,其*性体现,在以下几个方面:
一、X射线发生器部分:
采用进口PLC控制线路代替单片机控制线路,使该仪器故障率大大降低,仪器性能更加稳定可靠。进口PLC可编程控制器的使用,可大大提高该仪器X射线发生器的使用功率,满足部分特殊用户需大功率测试特殊样品的需要。而其它公司采取单片机控制线路,线路复杂,元器件繁多、故障率高,缺点是无法使仪器长时间地稳定地运行在大功率范围内(1.6KW以上)。高压控制单元与管理系统实现了真的电气隔离,隔离电压>2500V,由PLC模块对高压控制单元进行可靠管理及实时监控,并由触摸屏实时显示监测信息,各I/O接口模块均采用光电隔离措施,使高压发生器外电路与控制之间真实现了电气隔离,各模块均采用屏蔽措施,以防止辐射干扰。
二、记录控制系统(衍射仪的核心部分):
在原飞利浦衍射仪技术的基本上,采用进口PLC(可编程序控制器)控制线路代替原仪器的单片机控制线路,使得该仪器的记录控制系统计数更加稳定,控制更加简单,结构更加紧凑,由于采用大规模高精度自动化程度高的进口西门子PLC控制线路,使得该系统可长时间地稳定地运行。
该系统较其他公司采用的单片机线路有以下几方面的优势  :
1. 线路控制简单,便于调试、安装,只由一套西门子PLC系统与两块集成度高的线路板组成。大部分功能如:控制测角仪转动、微机接口、控制X射线发生器工作及采集计数信号等都由软件来实现,这样就大大简化了硬件系统,从而大大降低了该系统的故障率。而其它公司的衍射仪记录控制系统,仍然采用线路复杂的单片机线路,该线路调试复杂、维修困难,只能由厂家的专业技术人员维修。且故障率高,硬件方面相当繁琐,由十六块复杂单片机线路板组成,且所采用的集成块等元器件仍然是70年代引进飞利浦技术时的型号,且大多已经被淘汰。
2、由于采用模块化设计,使得该系统维修非常简单,用户无需厂家技术人员在场的情况下可自行维修与调试。
3、采用*的真彩色触摸屏实现人机交互,保护功能齐全,操作非常方便,立体强的动画设计更加人性化,更加直观,便于操作者的使用及判断故障信息等。
4、大大提高了该系统的计数的稳定性,从而提高整机的综合稳定度。
5、由于PLC扩展能力强,可方便地扩展多种功能附件,而无需另外增加任何硬件线路。
6. 的高压装置,高压在开的过程中,可以自动升降高压,如用户在测样品时开40Kv,40mA高压时,样品测试完成后自动降到30kV,20mA,铅门打开后高压自动降到10kV,5mA位置,铅门关上后,高压自动升到30kV,20mA位置,光闸窗口与铅门联动,如在数据采集过程中铅门不小心打开,则光闸自动关闭,同时高压自动降到10kV,5mA位置,数据停止采集,铅门关上后,高压自动升到设定数值后,数据继续进行采集。
三、我公司采用利用飞利浦技术生产的高性能正比计数器,该计数器性能稳定,计数能力强且分
辨率高,从而提高对样品测量的重复性及准确性。
四、测角仪采用进口精度轴承传动,提高仪器的测量精度,增加测角仪的使用寿命。测角仪运动控制由一套高精度全闭环矢量驱动伺服系统来完成,智能驱动器包含的32位RISC微处理,高分辨磁性编码器能将小的运动位置误差自动修正,精度高,角度重现性达0.0005度,小步进角达到0.0001度。
五、可提供满足各种功能的衍射仪附件(比如集成测量附件),拓宽了衍射仪应用领域。
六、TD系列衍射仪输出的衍射数据文件符合国际标准,通用性强,既可在本公司提供的具有自主知识产权的软件上处理,也可在进口软件上进行处理。
七、本公司引进的数据处理软件,功能十分强大,该软件为目前国际上*的版本。
八、配备大功率分体式制冷循环水冷却装置,降低室内噪单,可延长X射线衍射管的使用寿命。
九、立式测角仪结构可方便用户对测量样品的制作,更便于用户的操作。θ-θ测角仪的研制成功可满足部分特殊用户测试特殊样品的要求,如液体样品、溶胶态样品、粘稠型样品、松散粉末、大块固体样品等。  


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