STA MSB PT1磁悬浮天平

STA MSB PT1磁悬浮天平

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50000 1

具体成交价以合同协议为准
2023-05-04 15:57:43
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产品简介

STA MSB PT1磁悬浮天平 磁悬浮天平LINSEIS MSB PT 1适用于宽泛的温度和压力范围内进行腐蚀性介质环境下的重量测量。该磁悬浮天平由记录测量值的天平、承载样品重量的悬浮连接器,磁悬浮位移测量传感器以及悬浮控制单元组成。

详细介绍

磁悬浮天平LINSEIS MSB PT 1适用于宽泛的温度和压力范围内进行腐蚀性介质环境下的重量测量。该磁悬浮天平由记录测量值的天平、承载样品重量的悬浮连接器,磁悬浮位移测量传感器以及悬浮控制单元组成。

      样品重量的非接触式传输是通过一个悬浮磁体和吸持磁体实现。悬浮磁体由永磁体构成,而吸持磁体由天平上悬挂的电磁铁构成。位移传感器控制悬浮磁铁的准确位置,PID控制器通过电磁力的制动变量维持一个稳定的悬浮位置。通过磁耦合,微平衡可在各种环境条件下工作,免受高温,压力和腐蚀性介质影响。

金属测量系统

       金属版可用于多种领域。可以在超高真空到150bar以及温度范围从-196—2400°C进行测量。此外,利用特殊涂层的测量室可以测试腐蚀性和有毒的介质。

玻璃测量系统

        玻璃版可用于高腐蚀性介质的测量。测量室中的敏感的部分,例如悬浮磁体和带有铁芯的位置传感器,封装在玻璃内。磁性耦合和自动去耦合功能与金属版类似。可在温度900 ℃,压力1.3 bar下工作。

密度

        基于阿基米德原理,磁悬浮天平也可以测量密度。已知体积测量质量。通过样品的浮力计算密度。由于磁悬浮天平结构紧凑,可以在很宽泛的温度和压力范围内测量密度。

型号
金属反应腔玻璃反应腔
温度范围
-196 -- 2400°C900°C
压力范围
UHV* -- 150 barVacuum -- 1.3 bar
样品质量
10 g (标准天平)10 g (标准天平)
分辨率
1 ug1 ug
逸出气体分析
可用MS/FTIR可用MS/FTIR
Options:
可根据不同需求定制不同版本的仪器。

*UHV :超高真空




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