LS 13 320 XR 采用*的 PIDS 技术，为您提供的粒度分布数据，让您能够进行高分辨率的测量并扩展动态范围。如同 LS 13 320，XR 分析仪提供快速、精准的结果，并帮助您简化工作流程从而达到效率。一些重大改进可让您更容易察觉到细微差异，而正是这些细微的差异才会对您的粒度分析数据产生重大影响。

直接测量范围在 10 nm – 3,500 µm 之间

自动突出显示合格/不合格结果从而达到更快速的质量控制

增强版软件简化了标准测量方法的创建

全新 控制标准充分验证仪器/模块的性能

功能

发现细微差异

扩展测量范围：10 nm – 3,500 µm

激光衍射加上*的偏振光强度差散射 (PIDS) 技术可实现高分辨率的测量并可报告最小为 10 nm 颗粒的真实数据

可在单个样品中提供针对多种粒度的准确、可靠的检测

易于使用的软件

ADAPT 软件可自动进行合格/不合格检查

只需 3 步或更少，预配置方法即可呈现结果

简化专家及新手的分析仪操作流程

一步覆盖历史数据

直观的用户诊断可在取样过程中时刻对您进行提醒

简化标准测量的方法创建流程

ADAPT 软件符合《美国联邦法规》第 21 章第 11 部分的规定

可自定义的安全系统满足多元化需求

可选择 4 种不同的安全级别

高级别的安全配置符合《美国联邦法规》第 21 章第 11 部分的规定

PIDS 技术可直接检测大小为 10 nm 的颗粒

用3 种波长的光（450、600 及 900 nm）通过垂直和水平偏振光照射样品

分析仪从多角度测量来自样品的散射光

每种波长的水平及垂直辐射光之间的差异提供了高分辨率的粒度分布数据