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富易达THV7-504L 温湿度振动三综合试验箱
面议富易达THV7-210L 温湿度振动三综合试验箱
面议富易达 THV7-1000L 温湿度振动三综合试验箱
面议冲击试样低温仪(标准机型) CDW-80A-30
面议落锤冲击试验低温仪 CDW-80-73
面议富易达 TSK2-210L 卧式两箱温度冲击箱
面议落锤冲击试验低温仪 CDW-80-55Z
面议冲击试验低温仪(液氮换热型)CDW-100-05N
面议冲击试验低温仪(标准机型) CDW-80-16
面议富易达 CDW-60A-30 冲击试验低温仪
面议富易达 TSK3-504L三箱式温度冲击箱
面议冲击试验低温仪(标准机型)CDW-80-05
面议PCT-400高压蒸煮试验仪
一、PCT-400高压蒸煮仪用途:
1、测试IC半导体、LCD、PCB板、磁铁等产品的封装工艺、密封工艺耐湿耐压的能力;
2、试品被置于更严苛的温度、湿度、压力下,湿气会沿着胶体、胶体与导线的接口渗入封装体及多层线路板内。
二、PCT-400高压蒸煮仪技术参数
1.内箱尺寸: :400×450 mm(φ×D)圆形试验箱.
2.外箱尺寸: R-PCT–400: 700×1100×700 mm(W×H×D) .
3.内箱材质 : SUS 316#不锈钢板材质.
4.外箱材质:钢板烤漆。
5.温度范围 : 105℃~132℃. (饱和蒸气温度).
6.湿度范围 : 99%RH . (饱和蒸气湿度).
7.压力范围(表上压力): 0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2控制点压力 (安全压力容量.5Kg/cm2 ).
8.时间范围: 0 ~ 999 小时可调.
9.温度分布: ≤ ± 2.0℃.
10.升温时间:常温 ~ 132℃约40分钟内. (控制点温度).
11.加压时间:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2 约45分钟内(控制点压力).
12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.
13.控制方式:微电脑PID控制.
14.控制精度: ≤± 0.5℃.
15.解析精度:0.1℃.
三、PCT-400高压蒸煮仪的机械结构
1. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.
2. 圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击.
3. 水管采用铜管+喇叭口,精密设计,气密性良好,耗水量少。
4. 专用型packing ,材质:耐高温夕胶发泡成型,内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式*不同,可延长packing寿命.
6. 实验开始前可将原来内箱之空气抽出,并吸入过滤器,过滤之新空气packing<1micom.以确保箱内之纯净度.
7. 临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障提示.
8. 机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态.
9. 水箱采用16L大容量水箱,置于箱体底部,采用自动补水功能;试验不终断 ; 试验结束时设备会自动泻除压力.
四、 安全保护装置
试验时全程检测超温超压保护,阶段仪表内部超高温保护,第二阶段仪表内部加湿器缺水保护,高压力保护,水箱缺水报警断电,第二阶段加湿管极限温度保护,第二阶段超高压保护,第三阶段紧急泄压保护,手动泄压保护,自动泄压等!