产品用途：

两箱式温度冲击试验箱说明：为了仿真不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。

产品特点
规范试验条件：
a.可设定冲击温都范围
b.满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求
c.可设定依据待测品温变率控制
d.试验结束待测品回常温避免结霜结露技术
e.采用铝片验证机台负载能力(非塑料负载)
f.进行两箱冲击时测试区湿度符合规范要求
g.可执行低温0度冲击并省电
创新&特色：
a.单一机台可执行RAMP(设定温变率)、三箱(过常温)、两箱(高低温冲击)冲击试验(一机三用)
b.可试验待测品负载数量大
c.需除霜循环数高(500cycle除霜一次)，缩短试验时间与电费
d.传感器放置测试区而非风道口符合实验有效性
控制系统
a.内建双向USB2.0随身碟储存接口(可拷贝试验曲线与加载试验程序)
b.完整实时试验曲线分析显示，无时间限制
c.可与e化管理系统进行整合监控