两箱式高低温冲击试验箱-北京星宇环试科技有限公司手机版

详细介绍

产品用途：
温度冲击试验箱广泛应用于重点实验室和大型第三方检测测试实验室，涉及航空、航天、兵器、船舶、汽车、智能制造、新能源、通讯、计量、电子、铁路、电力、医疗及科研院校等诸多国民经济的重点领域，在温度冲击条件下对测试件温度应力检测、可靠性测试、性能测试、温度冲击测试等。

产品特点：
新型制冷：-120℃超低温制冷能力，满足用户超低温冲击需求
有效节能：低温试验时降低电力消耗30%以上
性能突出：性能指标优于国、军标要求
紧凑灵便：外形紧凑，灵活移动，节约占地空间
操作简捷：人性化操作界面，一建启停，无需专业培训
多重保护：确保人员、试件及设备无忧使用

执行及满足标准：
GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件
GJB 150.3A-2009 高温试验方法
GJB 150.4A-2009 低温试验方法
GJB 150.5A-2009 温度冲击试验方法
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法107温度冲击试验的要求
GB/T 5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法温度试验设备

技术指标

产品名称		两箱式温度冲击试验箱
产品型号		HZ-XY-2IT50	HZ-XY-2IT100	HZ-XY-2IT200	HZ-XY-2IT320	HZ-XY-2IT500	HZ-XY-2IT1000
内箱容积	升/L	50	100	200	320	500	1000
内箱尺寸	WDH（cm）	40×35×35	50×50×40	60×60×55	65×70×70	70×80×90	100×100×100
外形尺寸	WDH（cm）	95×110×175	105×120×190	115×130×210	195×160×230	200×200×228	245×230×238
标准承重	样品架（kg）	15	30	40	45	50	60
工作模式		垂直提篮式			水平滑篮式
性能指标	温度范围	A、-75℃～+200℃ B、-90℃～+200℃ C、-120℃～+200℃
	冲击范围	A、-55℃～+160℃ B、-75℃～+160℃ C、-85℃～+160℃
	温度波动度	≤±0.5℃
	温度均匀度	≤±2.0℃
	温度偏差	≤±2.0℃
	升温速率	RT～+200℃≤40min
	降温速率	A、+25℃～-75℃≤60min B、+25℃～-90℃≤80min C、+25℃～-120℃≤120min
	温度转换时间	≤10s
	温度回复时间	≤5min
	暴露条件	高温暴露30min；低温暴露30min
制冷方式		压缩机制冷
冷却方式		F、风冷 W、水冷

产品简介

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