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SE500椭偏仪薄膜测量薄膜材料的厚度、NK性能250-1700nm
SE500椭偏仪薄膜测量薄膜材料的厚度、NK性能250-1700nm产品简介椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器，主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质 参考价面议 -
SE300椭偏仪400nm到1000nm测量薄膜材料厚度
SE300椭偏仪400nm到1000nm测量薄膜材料厚度产品简介SE300椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器，主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质 参考价面议 -
SE200BA-M300椭偏仪测量250nm到1000nm薄膜材料厚度分析设备
SE200BA-M300椭偏仪测量250nm到1000nm薄膜材料厚度分析设备产品简介椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器，主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质 参考价面议 -
FPD-IG-175可视化及测量光谱激光束的时间特性光电探测器
FPD-IG-175可视化及测量光谱激光束的时间特性光电探测器主要优点FPD-IG-175是一种快速光学探头，用于可视化及测量光谱范围为900nm至1700nm的激光束的时间特性 参考价面议 -
HSA-X-S-2G-IN超快贰兆赫兹光电探测器
HSA-X-S-2G-IN超快贰兆赫兹光电探测器产品简介HSA-X-S-2G-IN超快贰兆赫兹光电探测器，德国FEMTO品牌，探测器为0.1mmInGaAs-PIN，可测波长范围900-1700nm 参考价面议 -
FPD-UV-3000紫外增强硅光电探测器193-1100nm
FPD-UV-3000紫外增强硅光电探测器193-1100nm产品简介FPD-UV-3000是一种快速光学探头，用于可视化及测量光谱范围为193nm至1100nm的激光束的时间特性 参考价面议 -
HSA-X-S-1G4-SI带宽1.4G光电探测器结合GHz放大器技术
带宽1.4G光电探测器结合GHz放大器技术产品简介10kHz高达2GHz、高速、固定增益通过将的光电二管与久经考验的FEMTOGHz放大器技术相结合，我们设计了性能好的新型光接收器系列 参考价面议