密封胶断线检查装置清和光学制作所SEIWA
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重庆津泽机电科技有限公司

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产品简介

密封胶断线检查装置清和光学制作所SEIWA OPTICAL
密封胶断线检查装置,面板贴合错位检测装置,颗粒检查装置,间隔件检查装置,波浪线检测设备

详细介绍

密封胶断线检查装置清和光学制作所SEIWA OPTICAL

密封胶断线检查装置清和光学制作所SEIWA OPTICAL

密封胶断线检查装置面板贴合错位检测装置颗粒检查装置间隔件检查装置波浪线检测设备

产品介绍

密封胶断线检查装置

检查密封剂和熔块断开情况

通过扫描整个电路板来检查密封件是否破损等。

现在可以实现高精度和高稳定性的检查。

对点胶装置的反馈有助于提高密封应用的准确性。

用途

LCD密封检查、OLED熔块/DAM检查规格检查对象区域:直线段、角部

检查项目:断线、宽度、位置

兼容板尺寸:最大 G10.5

选项:点尺寸/位置检查

面板贴合错位检测装置

面板对位精度检查

TFT基板/CF基板贴合后检查贴合精度。

实现高精度、高稳定性检查 → 重复精度3σ 0.3um 以下

反馈至电路板邦定设备有助于提高邦定精度。

用途

LCD TFT/CF板面板

贴合后贴合精度检查规格检查对象区域:Sheet MarkPanel Mark

检查项目:TFT /CF 板粘合精度

支持的基板尺寸:最大G10.5

选项:密封宽度检查、点有无检查

颗粒检查装置

在粘合 TFT 基板/CF 基板之前检查工艺中的颗粒状态。

用途

检测FPD板表面颗粒~反映到前道工序的反馈和修复中规格最小检测尺寸:Φ1um ~ (Φ5um, Φ10um, Φ30um)

兼容板尺寸:最大G10.5

间隔件检查装置

间隔件分配完毕后,检查间隔件分配情况。

兼容整个板区域的“整体”测量(宏观检查)和特定区域的“分布”测量(微观检查)。

用途

在粘合 FPD 基板之前测量间隔分布 ~ 反映在对先前过程的反馈和修复中规格兼容垫片尺寸:Φ3um ~

兼容电路板尺寸:最大 G6

波浪线检测设备

检测显示器内用普通显微镜无法观察到的波纹度。

配备特殊可视化技术的检测设备。

用途

用于柔性显示及OLED各制程

检测项目:Wave

Line / Bubble / Scrunch / Particle


密封.png密封1.png密封3.png

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