清和光学制作所SWIR-5200内部观察显微镜SEIWA OPTICAL

清和光学制作所SWIR-5200内部观察显微镜SEIWA OPTICAL

半导体内部观察显微镜SWIR-5200，双目体视显微镜，变倍双目体视显微镜SKZ系列，SKZ-2(2+60+13+20+40-C)，SKZ-4（2+60+13+25-B+40-C），SKZ-1（2+60+13+20），SKZ-5（2+60+19-A），SKZ-6（2+60+13），测量显微镜SMJ-5，SMJ-7，SMJ-8，通孔镜PC-2

产品介绍

半导体内部观察显微镜SWIR-5200

半导体内部观察显微镜

SWIR-5200 型，配备 1.3 兆 SWIR 相机这是一种

利用红外光的透射和反射特性

来观察硅晶片、芯片、MEMS 和 CSP 等半导体器件内部的

显微镜。搭载

配备1像素5μm、1.3MP的SONY IMX990的SWIR相机，

即使是近红外图像也能获得高分辨率图像。 ・使用

成像镜筒和

针对近红外1100-1700nm区域设计的PEIR物镜系列，配合SWIR相机具有高灵敏度，即使在厚晶圆和高密度晶圆上也能获得高对比度图像。

・高功率A近红外设置卤素光源，即使使用100倍物镜也能获得明亮的图像。

配备8英寸晶圆安装台，还可以提供防振台和晶圆装载机等选件。

双目体视显微镜

变倍双目体视显微镜SKZ系列

目镜：SWF10X

物镜：0.75X-4.5X（变倍比6:1）

总放大倍率：7.5X-45X

视场数：29.3mm-4.8mm

工作距离：90mm

变焦头：45 ° 倾斜、360° 旋转、屈光度调节、瞳孔宽度调节 50-75mm

焦点调节：微调 = 齿轮齿条式 50mm 操作

照明装置：环形荧光照明装置

*也可提供白色 LED 环形照明。

测量显微镜

体积小且易于操作的测量显微镜，让您可以在狭小的空间内工作。

通孔镜

通过自由改变PC-2

板内壁的视角，可以检查小孔的内表面。

观察表面时请使用可选照明。

您可以清楚地观察安装IC的电路板的焊接情况。