武藏野电子MUSASHINO薄片厚度测量装置

武藏野电子MUSASHINO薄片厚度测量装置

薄片厚度测量装置，负载测量装置，荷重测定器，超声波清洗机WT-100M，样品干燥机，标本干燥机

产品介绍

可以测量抛光样品的厚度。

适合以微米为单位的精密抛光。

特征

可测量样品厚度，最小读数精度为1 µm。

将带有蜡的样品附着板的附着面设置为0点并从那里测量样品表面，可以在附着样品时测量抛光量。

负载测量装置

特征

通过将样品放置在样品架上并将其放置在负载测量装置上，可以测量抛光工作中实际施加的负载。

通过在没有负载的情况下放置样品架并检查测量值，可以在抛光时施加必要的负载来施加负载。

使用负载测量装置测量样品上的负载

超声波清洗机WT-100M

非常适合清洁抛光和切割样品。适用于去除磨料和切削碎屑。

特征

适用于树脂包埋前清洗样品。

非常适合清理抛光工作后样品上附着的磨料。

可用于切割工作后清除切割废料。

也可用于清洁光学设备部件。

也可用于清洁实验室设备。

样品干燥机/标本干燥机

特征

可进行热风、冷风切换。

加热器只有在鼓风机开关打开时才工作，安全。