L170涂层测厚仪 Lee测厚仪

L170涂层测厚仪 Lee测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-15 13:59:07
444
产品属性
关闭
上海申方源仪器有限公司

上海申方源仪器有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

L170 涂镀层测厚仪采用了磁感应测厚法,是一种超小型测量仪,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等)可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量;该仪器坚固耐用、用途广泛,可单手操作。

详细介绍

 美国LEE INSTRUMENTS公司是专业生产涂层测厚仪的公司,产品精度高,稳定可靠,坚固耐用!一直为美国军方和航空航天行业独自使用,近年来美国才允许出口到国外!
L170 涂镀层测厚仪设计便携耐用,使其能在苛刻条件下正常使用。L170具有一键操作功能,无须校准,也不用重设即可进行下一次测量,无需对操作人员进行培训即可操作。
L170 测厚仪功能:
    可进行零点校准及全量程校准。红宝石防磨探头。可对探头进行基本校准。具有自动关机功能。操作过程有蜂鸣声提示。有欠压指示功能。有错误提示功能。
L170测厚仪指标:
*测量原理:磁感应法
*
测量范围:11250μm
*
测量准确度:±[(13)%H+1] μm(全量程校准)

*分辨率:1μm
*工件要求:zui小曲率半径(mm)凸5  /   25 
          
接触zui小面积直径10mm×10mm
          
基体临街厚度0.2 mm
*使用环境:温度0-60摄氏度;湿度 20%-75% ;无磁场环境
*电源:四节1.5AAA电池
*外形尺寸:112 ×69×28mm
*重量:82 g(不含电池
标准配置:

主机、标准校准片组、校准铁基体、使用指南、英文检验报告证书、手提箱、挂绳

上一篇:X射线荧光镀层测厚仪 下一篇:ISO 17025国际标准规格校正认定
热线电话 在线询价
提示

仪表网采购电话