介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

介电常数介质损耗测试仪技术特性  
Q 值测量范围  2 ～ 1023 
固有误差  ≤ 5 ％ 
工作误差  ≤7％ 
电感测量范围  4.5nH ～ 140mH  
电容直接测量范围  1 ～ 200pF  
主电容调节范围  18 ～ 220pF  
主电容调节准确度 ± 1 ％  
信号源频率覆盖范围  100kHz ～ 160MHz  
频率分段 （ 虚拟 ）  100 kHz ～ 160MHz  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

介电常数介质损耗测试仪技术特性 

平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选  
极片间距可调范围：≥15mm 
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．测微杆分辨率：0.001mm

介电常数介质损耗测试仪概述

BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 

介电常数介质损耗测试仪特点

双扫描技术/ 双测试要素输入 / 双数码化调谐 /自动化测量技术 /全参数液晶显示  /DDS 数字直接合成的信号源  /计算机自动修正技术和测试回路*化 

gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具

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