高温同步热分析仪
DZ-STA200 同步热分析是一款可以同时测量TG和DSC的信号的热分析仪器，温度可升至1200℃，可进行多段温度设置，彩色触摸屏显示，操作简单快捷。 参考价面议
dsc量热仪
DZ-DSC100A是南京大展检测仪器一款经典型的dsc差示扫描量热议，采用上开盖式的炉体结构设计，测试样品方便，并且带有三层保温盖，保温性高，采用全新的炉体设计，精度高，7寸彩色触摸屏显示，双向操作，操作便捷。 参考价面议
差热扫描量热仪器
DZ3320A差热分析仪是南京大展检测仪器生产一款高温差示分析仪，可实现多段温度设置，同时全新的炉体设计，保温性好，同时精度高，双向操作系统，操作便捷。 参考价面议
dsc差示量热仪
DZ-DSC300C是南京大展仪器推出一款半导体低温款差示扫描量热仪，测试温度-40~600℃，不同温度设置，双向的操作系统，操作简单。 参考价面议
差热分析仪器
DZ3320A差热分析仪是南京大展检测仪器生产一款高温差示分析仪，测量速度快，同时全新的炉体设计，保温性好，双向控制系统，操作便捷，7寸彩色液晶触摸显示屏，清晰度高等性能优势。 参考价面议
DZ3332高温差热分析仪
DZ3332 高温差热分析仪是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度（△T）随温度或时间的变化关系。 参考价面议
DZ3320A差热分析仪
DZ3320A差热分析仪是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度（△T）随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。 参考价面议
DZ3320A 差热分析仪
差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。 参考价面议
DZ3320C 高温差热分析仪
DZ3320C 高温差热分析仪 参考价面议
STA-200同步热分析仪
STA-200同步热分析仪将热重分析TG与差热分析DTA或差示扫描量热DSC结合为一体，在同一次测量中利用同一样品可同步得到TG与DTA或DSC的信息。 参考价面议
同步热分析仪供应商南京大展仪器公司
品牌大展温度范围室温~1200℃ 可扩展至~1450℃温度分辨率 0.01℃温度波动 0.1℃升温速率 0.1~80℃/min温控方式 PID算法控制，升温、恒温、降温恒温时间 0～300min任意设定程序控制多段程序控制天平测量范围 1mg～3g可扩展至10gDSC量程 0～500mW 参考价面议
同步热分析仪南京大展仪器供应
品牌大展温度范围室温~1200℃ 可扩展至~1450℃温度分辨率 0.01℃温度波动 0.1℃升温速率 0.1~80℃/min温控方式 PID算法控制，升温、恒温、降温恒温时间 0～300min任意设定程序控制多段程序控制天平测量范围 1mg～3g可扩展至10gDSC量程 0～500mW 参考价面议

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