数显薄膜测厚仪

BMH-J3数显薄膜测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-14 09:00:00
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东莞市华银试验仪器有限公司

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产品简介

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详细介绍

BMH-J3数显薄膜测厚仪/国产BMH-J3数显薄膜测厚仪的详细说明

     
BMH-J3简介:

本薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。
本薄膜测厚仪生产参照执行国家标准GB/T6672-2001。

一、BMH-J3技术资料:
测量范围:(0-25)mm 分辨率:0.001mm 电源:氧化银电池SR44 工作温度:0℃~+40℃ 储运温度:-20~+70℃ 相对湿度:≤80% 数据输出任意位置置零公英制转换自动断电
 
 

二、 BMH-J3主要技术指标:

测量范围:(0-25)mm

分辨率:0.001mm

电源:氧化银电池SR44

工作温度:0℃~+40℃

储运温度:-20~+70℃

相对湿度:≤80%

 三、BMH-J3主要功能:

数据输出

任意位置置零

自动断电
 三、使用注意事项:

1、使用和检定前,请校对零位。
2、电子数显部件,须防止油、水或其它液体浸入。
3、测微螺杆和量面必须经常清洁,使用后可涂层防锈油。
4、是精密量具,应防止撞击,以免影响准确度。
5、微分筒移动距离应在刻度套管的刻线范围内,超出刻线不大于0.5mm。
6、*不使用时,应取出电池。





BMH-J3的品牌:国产

BMH-J3的型号:BMH-J3

BMH-J3的产地:国产

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