美国泰克371A TEK371A晶体管测试仪 

主要参数：·半导体器件高精度测量

-上限达2000V或电流到10A的源（370A）

-上限到3000V（371A）

-上限到220W（370A）

-上限到400A（371A）

-1nA的测量分辨率

-上限到3000W（371A）

·上限到2mV的测量分辨率（370A）

·波形对比

·包络显示

·波形平均

·点光标（370A）

·Kelvin传感测量

·全程控

·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用

 应用

 手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量

 来料检查

 生产测试

 过程监视及质量控制

 数据报告的生成

 元件配对

 失效分析

 工程测试

 交互式程

所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作

参数，包括370A的非

 易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。

 测试夹具

 测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001

，中间通过Kelvin传

 感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。

370A程控特性曲线图示仪

370A是全/球/著/名的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管

、可控硅、场效应管

 、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。

 在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作

 在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。

370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。

 技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范围 zui大峰值电流（±） 峰值电流

（脉冲式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 

阶梯：DC,80μS脉冲，300μS脉冲 阶梯量程- 电流： 50nA到200mA，按1-2-5顺序 电压： 50mV到2V，

按1-2-5顺序 偏置 zui大到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流- 测试量程： 

100nA/div(1nA分辨率）至2A/div误差，1.5%光标读出+0.05div设定值（点光标） 发射极电流- 测试量

程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 误差 1.5%光标读出+0.05div设定值+1nA 安全标准 UL1244，

CSA231，HD401S1