能量色散X射线荧光光谱仪EDX8800(真空型)
产品特点
1. 采用的美国SDD（SILICON DRIFT DETECTOR）硅漂移探测器，分辨率更高，大大提高了轻元素的检出限，标准检出限较SI-PIN探测器提高100倍；测量范围更宽，基本涵盖了各种常规材料元素分析要求；
2. 配置美国数据集成处理系统，数据采集速度更快，测量更稳定，重复性和长期稳定性更好；
3. 配置新开发的专用测量软件，集成多种图形计算方法，测量数据更精准，更稳定；
4. 软件监控仪器主要核心部件运行状态，使用更快捷；
5. 配置专门开发的真空系统，真空性能更好，测试效果更佳；
技术参数:
1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U)
2. 元素含量分析范围为1ppm到99.99％
3. 低检出限：1ppm
4. 测量时间：60-200秒(可调)
5. 仪器工作电源：AC220±5V
6. 能量分辨率为129±5eV
7. X 射线光管大输出电流：1mA
8. 极限压力：6.7×10-2 Pa
9.样品腔尺寸：610*320*100(mm)（不抽真空）/Φ100*h75(mm) (真空样品腔)
10.多次测量重复性(以标准样品为准)：±0.05％（高含量）/±0.002％(微量)
11.长期工作稳定性(以标准样品为准)±:0.06％ (高含量）/±0.0025％(微量)
