泰克Tektronix DSA8300 数字采样示波器

公司简介

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产品介绍

DSA8300 是一款*的等效时间采样示波器，为通信信号分析、串行数据网络分析以及串行数据链路分析应用提供业的保真测量和分析功能。

主要性能指标

· 低时基抖动:

o 最duo 8 条同时采集的通道上典型值为 425 fs

o 82A04B 相位基准模块中，最多 6 条通道上 <100 fs

· 垂直分辨率 – 16 位模数转换器

· 电接口分辨率：<20 µV LSB（适用于 1 v 全量程）

· 光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW

· 光接口带宽 >80 GHz

· 电接口带宽 >70 GHz

· 为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能

· 80 多种行业标准模板，自动进行模板测试

· 复杂抖动/噪声/BER/SER 分析 (80SJNB)，支持复杂测量 TDECQ 1, SNDR 2 (应用)

杰出的性能，优异的通用性

DSA8300 数字串行分析仪为开发和测试采用几千兆位数据传输技术的通信、计算机和消费电子提供了用途广泛的工具。它可以用来对这些产品中使用的器件、模块和系统的光接口和电接口发射机进行检定及一致性验证。

此外，DSA8300 特别适合电接口信号路径检定，包括封装、PCB 或电缆。由于杰出的带宽、信号保真度及可扩展性的模块化架构，DSA8300 为当前和新兴串行数据技术提供了性能的 TDR 和互连分析能力、准确的信号损伤分析能力以及 BER 计算功能。

最后，由于杰出的信号保真度和分辨率，对要求超高带宽、超精细垂直分辨率、低抖动和/或杰出低噪声的电接口和光接口应用，DSA8300 提供了黄金标准。

DSA8300 拥有的测量系统保真度及非常低的基本仪器抖动本底（对速率 >1.25 Gb/s 的串行数据信号，典型值为 425 fs RMS），保证准确地同时采集最多 8 个高带宽信号。使用 82A04B 相位参考模块时，采集抖动低于 100 fs RMS 使分析效果更佳。

多处理器结构及每插槽专用数字信号处理器 (DSP) 提供了快速波形采集速率，缩短了进行可靠的检定和一致性验证所需的测试时间。

DSA8300 的通用模块化结构支持大量的且不断增加的插件，您可以为测量系统配置各种适合您当前应用和未来应用的电接口模块、光接口模块和附件模块。DSA8300 提供了 6 个模块插槽，可以同时容纳一个时钟恢复模块、一个精密相位参考模块和多个电接口或光接口采集模块，可以让系统性能与不断演变的需求相适应。由于能够在不断电的情况下插拔采样模块，DSA8300（适用于固件版本为 6.1 及以上的示波器）可以根据测试需求变化，更加灵活地配置 DSA8300。

此外，专用模块配套功能，如单端和差分电接口时钟恢复、电接口采样器静电保护及连接流行的 TekConnect®探测系统，在高阻抗探测和差分探测中提供了的泰克探头性能。另外，还提供用于 50 Ω 探测和 TDR 探测的低阻抗探头。

DSA8300 及相关应用软件完善的测量和分析功能进一步增强了 DSA8300 及其采样模块和附件的原始采集性能。

光接口测试应用测量和分析工具

DSA8300 为满足光接口测试应用专门设计的各种测量和分析工具。除标准幅度和定时参数测量外（如上升时间/下降时间、幅度、RMS 抖动、RMS 噪声、频率、周期等）外，DSA8300 的测量套件还包括为测量光接口信号订制的测量（平均光接口功率、消光比、眼图高度、眼图宽度、光接口调制幅度 (OMA)、等等）。如需完整的测量清单，请参阅本产品技术资料的测量部分。

DSA8300 还包括标准一致性测试模块，支持 155 Mb/s ~ 100 Gb/s 的所有常用光标准。DSA8300 模板测试系统可以把标准和用户模板自动拟合到波形数据库内采集的数据中。模板测试系统还可以基于模板违例总数或模板违例相对于模板测试单位间隔中采集的样点数的比率，自动确定模板余量。用户还可以创建定制模板，自动进行模板测试。另外还提供了直方图和光标测量，分析 DSA8300 采集的光接口信号。

测试解决方案

DSA8300 拥有高度可配置的主机和各种模块，提供了完整的测试解决方案及杰出的系统保真度。

· 光接口模块

泰克 80C00 家族光采林荫道模块覆盖了单模光纤和多模光纤的各种波长。各种模块提供了多种功能，如时钟恢复、基准接收机滤波器和各种标准测试解决方案。

· 电接口模块

泰克 80E00 家族光采模块提供提供了各种功能，用户可以配置专门为其应用设计的测试解决方案。有各种带宽解决方案及其他功能，如时域反射计或 S 参数测试。

· 实用工具模块

泰克 80A00 和 82A00 家族模块提供了额外的功能，如相位基准和 ESD 保护。

80A02 EOS ESD 隔离模块

82A04B 相位基准模块

80A03 模拟扩展装置

应用

· 设计/检验电信和数据通信器件和系统

· ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/一致性测试

· 高性能真正差分 TDR 测量

· 串行数据应用阻抗检定和网络分析，包括 S 参数

· 高级抖动、噪声、BER和SDLA分析

· 使用IConnect基于通道和眼图仿真和测量建模

产品介绍

主要性能指标

光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW

光接口带宽 >80 GHz

电接口带宽 >70 GHz

为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能

低时基抖动:

*大 8 条同时采集的通道上典型值为 425 fs

82A04B 相位基准模块中，*多 6 条通道上 <100 fs

垂直分辨率 – 16 位模数转换器

电接口分辨率：<20 µV LSB（适用于 1 v 全量程）

80 多种行业标准模板，自动进行模板测试

分析

对速率在 <1 GBd 到 60 GBd 之间的高速 PAM4 和 PAM2 NRZ 串行数据执行抖动、噪声和 BER

80STDEC 简化了高性能发射机和色散眼图闭合 (TDEC) 测量，使其非常适合生产和一致性验证应用

自动模板测试，支持 80 多种行业标准模板。新模板可以导入 DSA8300，支持各种新兴标准。用户可以定义自己的模板，自动进行模板测试

抖动、噪声、BER、模板测试和串行数据链路分析 (SDLA) 通过 80SJNB Essentials 和 Advanced 应用软件选项提供

高级 TDR 分析、S 参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能通过 IConnect® 应用软件选项提供

400G-M4 光制造分析软件提供了光发射机和色散眼图闭合象限(TDECQ)分析功能

高测试吞吐量

每条通道高达 200 kS/s 的高采样率

高效编程接口（IEEE-488、以太网或本地处理器接入）实现高测试吞吐量

Tektronix泰克 DSA8300 数字采样示波器

Tektronix泰克 DSA8300 数字采样示波器