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动态非饱和土环剪仪
面议HREX0511型 DSP控制变频调速实验系统
面议HREU11型 ZigBee无线传感网络实验系统
面议HRES12型 单片机·CPLDFPGA开发综合实验装置(配仿真器)
面议HREQ40型 光机电气一体化(自动生产线)实验装置
面议HREQ21型 液压传动与PLC实验装置
面议HREM31型 步进电机实验装置
面议HREM11A型 电机特性测试及伺服控制实验装置
面议HREA0511型 控制理论实验箱
面议HREC12型 离心风机性能测试实验台
面议HRPZ31型 控制工程创新实训平台
面议PL4-25 HRPL0708 型小车运动控制系统实训模型(直流电机)
面议对温度传感器性能的了解及测试是大学物理实验的一项内容,但大多数实验仪器只具备做环境温度以上的实验, FD-TM温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪具备了半导体致冷功能,使之能做环境温度以下的实验。本仪器主要测试温度传感器AD590的性能(可根据要求增加多种温度传感器的测试)及了解半导体致冷堆的性能。
仪器主要由以下部分组成:
1.TCF708控温仪
2.四位半数字电压表(0-2V)
3.加热井和致冷井装置
4.AD590实验系统
应用该仪器可以完成以下实验:
1.学习半导体制冷的原理。
2.测量电流型温度传感器AD590的特性。
3.学习智能温度调节仪控温的原理及调节方法。
仪器主要技术参数:
1.加热范围 环境温度-120℃
2.致冷范围 环境温度-低于环境温度30℃
3.控温精度 0.1℃
4.测温精度 ±3%