在测量站使用 MarSurf XCR 20 测量粗糙度和轮廓，这个综合的测量站可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和轮廓测量。
根据测量任务，可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量，或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。
两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。

• 节省空间型设计：两个驱动装置可使用相应的组装支架安装到 MarSurf ST 500 或 ST 750 测量立柱
• 一次测量即可完成粗糙度和轮廓评估
• 使用 MarSurf LD 130 / LD 260 测量系统对组件进行高精密度轮廓和粗糙度评估需要长行程和*的分辨率
• 只需在软件平台内进行切换并更换驱动装置和测头等机械组件即可快速更换粗糙度和轮廓测量