产品简介
X-Strata920表面镀层测厚仪是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析
详细介绍
X-Strata920表面镀层测厚仪
是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。
功能特性：
- 成本低、快速、非破坏的EDXRF分析
- 可完成至多4层镀层（另加底材）和25个元素的镀层厚度测试，自动修正X射线重叠谱线
- 的多元素辨识，广泛覆盖元素表上从钛（原子序数22号）到铀（92号）各元素
- 测厚行业35年知识和经验的积淀
