奥林巴斯CIX100技术清洁度检测系统：让您的技术清洁度检测更简便

组件与零部件的清洁对于生产工艺十分重要。对于开发、制造、批量生产以及成品质量控制的所有流程，满足对常见微观尺寸污染物和异物颗粒的计数、分析和分类的高标准要求是非常重要的。由于颗粒污染物对于零部件的使用寿命存在直接影响，国际和国家指令对于确定重要机械部件颗粒物污染的方法和存档要求均有表述。此前，使用残留颗粒物的质量来描述残留物特征。当前使用的标准对诸如颗粒物数量、颗粒物尺寸分布以及颗粒物特征等污染属性提出了更详细的信息要求。

奥林巴斯CIX100清洁度检测系统专为满足现代工业及国家和国际标准的清洁度要求而特别设计。

清洁度检测的标准步骤：准备和检测
(01:提取, 02:过滤, 03:称重, 04:检验, 05:复审, 06:结果)

实现很高效率的直观引导

使用方便的专用工作流可大大减少用户操作并确保数据可靠性-无关操作员的经验水平。 · 分布操作指导可提高生产率，缩短检测和处理时间 · 用户权限管理可对功能作出限制，通过限制功能避免操作员处理失误 · 触摸屏支持操作员高效操作处理 · 一键报告功能可直接进行数据存档 · 通过检测结果自动存储和进行数据分享管理

快速实时分析

创 新的一体式扫描解决方案让完成扫描的速度是传统调节检偏镜式检测系统的两倍。实时 显示颗粒物的计数和筛选过程，并且配有便于修改检测数据的强大易用型工具。 · 缩略图像有助于评估过滤器覆盖情况、颗粒物类型情况或者*劣颗粒物 · 自动实时处理和分类2.5微米至42毫米污染物颗粒 · 通过的一体式扫描技术一次扫描完成反光和非放光物体的探测提高生产率 · 分析和检测结果实时显示，实现很短反应时间 · 支持兼容国际标准的检测结果

高效率的数据评估

功能强大且使用方便的工具支持检测数据修改。支持所有国际标准确保很高灵活性。以节 省时间的方式清晰展示所有相关检测结果。 · 图像和数据布局清晰鲜明，提高数据审核效率 · 各种颗粒物视图的可视化，便于快速识别 · 颗粒物位置与缩略图与其尺寸图像链接的可靠保证 · 便于对检测数据进行重新分类、审核修改以及重新计算 · 通过整体清洁度代码、颗粒物和分类表的实时显示缩短反应时间 · 通过在一个视图内显示全部检测数据集实现全 面控制

报告创建

一键报告功能可满足国际标准规定的要求及原则。 · 基于兼容模板实现全 面直观的专业文档 · 通过客户可修改的模板实现的智能可变性 · 支持各种输出格式，实现很高灵活性 · 通过直接文件分享选项功能进行信息交流提高效率且节省时间 · 便于检测结果长期评判的丰富数据存储方案

1.可再现成像条件(相机盖)
通过受保护的相机对齐避免意外错位，实现尚佳可再现性。
2.创 新偏光方法(探测单元)
一次扫描即可探测反光（金属）和非反光颗粒物。
3.经久耐用(载物台/载物台插件)
精 确可再现的定位以及改良的对焦驱动功能确保实现可再现的定位。载物台插件可确保牢固的薄膜定位，并且配有用于集成校准工具的额外插件。
4.优良的光学性能（显微镜）
通过奥林巴斯UIS2物镜和高分辨率相机等上等光学组件获得分析用上乘图像质量。
5.使用方便（软件）
简单易用的软件采用直观分步操作的工作流，引导用户完成完整的检测流程，并可很大限度降低操作员失误。
6.高性能（工作站）
功能强大的工作站配有方便高效工作的触摸屏显示器。

可再现性和可重复性
	奥林巴斯CIX100系统使用方便，即使不熟练的检测人员也能够获得精 确可靠的数据。 预配置的硬件和专用系统解决方案可帮助确保您的设置能够正确获得精 确、可重复的检测结果。
该图表通过利用过程性能指数(Ppk)验证测量稳定性和可重复性展示了奥林巴斯CIX100的精密性。在5X和10X倍率下测量同一样品数次（10次）并提取按常规尺寸分类的颗粒物计数。该图表展示了E等级(50-100µm)的Cpk和Ppk评估。

的光学品质
	奥林巴斯高品质UIS2物镜可确保获得上等测量和分析精度的尚佳光学性能。针对清洁度检测优化的专用光源可保持均一一致的色温。
经过优化的可再现性
	通过消除照明光程上的运动部件、很大限度实现功能自动化以及创建避免操作员失误的直观工作流，可再现性达到尚佳。 集成式校准载玻片有助于保持常规的系统校验状况。
集成式校准片有助于保持常规的系统校验状况。
安全设置
	光路调整、电动物镜转换器以及相机均配有避免发生意外修改的防护盖。