ContourGT-I-布鲁克光学轮廓测量仪-上海瓦克仪器有限公司手机版

详细介绍

ContourGT-I 三维光学显微镜集三十年表面测量之大成，集合到一台桌面型系统上，实现面向生产自动化需要，测量角度灵活的成像质量，和已经验证的可定标的稳定测试性能。通过扫描头倾斜，该系统可解决倾斜样品台测试时引起的样品位置变化，从而轻松实现在一定角度内自动倾斜对表面特征进行测量。Vision64 软件结合改进的样品台进一步提高了使用的方便性，更有效地提高用户的测试效率。ContourGT-I 可立刻测试各种样品，在桌面型系统上实现了各种特性。

实现更快，更简便测量

>自动光学倾斜测量头
>全自动X,Y, Z样品台
>自动光镜转塔，放大镜，和测试光选择

更灵活而稳定的防震

>集成式充气式防震台
>高稳定度，空间节省

更强大的测量和分析

>简单明了，人性化的工作流程
>实时自动优化测量
>完整的数据分析软件包
>可定制的分析报告

测量高效

倾斜测量头为用户提供了大的灵活性，实现快速测量和观察。通过在在显微镜头中结合头部倾斜功能，实现了将观察位置始终保持在焦平面处，为用户实际使用时带来了很大便利。
准确追踪和使用的简便性对于在不同表面上快速检测是至关重要的，这样在批量测试时速度也大大提高。

台阶高度准确性

这一特点结合样品台与物镜的电动控制使得Contour GT-I 成为了具有较小占地却能同时满足多种测试要求的测量平台。

方便灵活的测量方式

除上述优点外，ContourGT-I通过直接在机台上集成防震系统，使其直接满足各种环境条件，包括工厂，实现迅速准确地测量。
这一经过严格测试的防震系统为用户提供优化测试条件，从而得到重复性的定量数据。

产品简介

详细介绍