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集透射和反射测量于一体，波段覆盖780-1600nm
NSTAR-200近红外光谱透反射测量系统集反射和透射测量功能于一体，用于测量材料的光谱反射率/光谱透过率，测量波段范围覆盖780-1600nm。系统应用远方公司多项技术，可快速精确测量近红外宽波段范围内光谱透反射率，系统测量灵敏度高，稳定性、复现性好，杂散光小，可满足较低透反射率的深色样品测量，主要用于各类材料研发实验室。主要特点：
● 兼容反射和透射测量：反射测量d/8，SCI和SCE可选；透射测量为d/0几何；
● 附NPL溯源标准色板，溯源性好；
● 稳定性好，测量精度高，满足较低透反射率的深色样品测量。
型号 | NSTAR-2000 |
测量几何 | 兼容透反射测量 |
波长范围 | 780nm～1600nm |
波长准确度 | ±0.5nm |
反射率范围 | 0-99% |
测量重复性 | 0.2% |
测量孔径 | 反射测量：Ф28mm 透射测量：Ф20mm |
接口 | USB |
