KEITHLEY 2510 精密温控源表

2510KEITHLEY 2510 精密温控源表

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具体成交价以合同协议为准
2023-11-30 10:01:27
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深圳市世家仪器有限公司

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产品简介

美国2510吉时利keithley精密温控源表,带直流测量功能的50W TEC控制器,激光二极管模块测试时的温度控制,支持多种温度传感器输入——热敏电阻、RTD以及IC传感器,保持恒定的温度、电流、电压和传感器阻抗。

详细介绍

  • 特点

    优势

    主动温度控制防止温度变化可能引起激光二极管主输出波长发生变化,导致出现信号重叠和串扰问题。
    50W TEC 控制器比其他低功耗解决方案提供更高的测试速度和更宽的温度设定值范围。
    全数字 P-I-D 控制提供更高的温度稳定性,并可通过简单的固件变化轻松升级。
    适用于热控制环路的自动调谐功能 (2510-AT)无需反复试验即可确定 P、I 和 D 系数的组合。
    宽温度设定值范围(–50°C 至 +225°C)以及高设定值分辨率 (±0.001°C) 和稳定性 (±0.005°C)能够满足大部分冷却光学元器件和子装配件生产测试的测试要求。
    兼容于多种温度传感器输入 — 热敏电阻、RTD 和 IC 传感器适合于各类激光二极管模块的温度传感器类型。
    交流欧姆测量功能验证 TEC 器件的完整性。
    适用于热反馈元件的四线开路/短路引线检测消除引线电阻测量值误差,减少假故障或设备损坏的可能性。

    型号

    型号通道电流源/量程电压源/量程电源测量分辨率(电流/电压)
    2510
    15A10V50 W-
    2510-AT
    15A10V50 W-
    2502
    220mA100V2 W1fA
    2520
    15A10V50 W700nA / 0.33mV


  • The 2510 and 2520-AT precision temperature source meters enhance the integrity of the high speed Liv (light intensity current-voltage) measurement of laser diodes. The two 50W power bipolar source meter instruments, designed specifically for the testing applications of laser diode modules in optical communication networks, are designed to ensure strict temperature control of the devices being tested.The 2510 is the first dedicated temperature control instrument to be used for laser diode testing in optical communications, bringing together the high-speed DC power supply and precision measurement capabilities of Kishli The ability to control the precise temperature of the thermoelectric cooler (TEC) of the laser diode module is formed.


    The main features of the 2510-AT automatic temperature control (2510-AT) source table in the United States of America are as follows:

    Control and production testing of thermoelectric coolers (Peltier devices), including:

    Laser diode module;

    Ir charge coupled device (CCD) array and charge injection device (CID);

    Cooling photodetector;

    Thermo-optical switch;

    Temperature control fixture;

    The main applications of 2510-AT automatic temperature Control (2510-AT) Source Table in America:

    For production testing of the following devices:

    Remote communication laser diode;

    Optical storage read / write head laser diode;

    Vertical cavity surface emitting laser (VCSELL);

    Thermal impedance;

    Junction temperature response


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