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功能简介：
利用标准试块自动生成DAC、AVG曲线；
自动显示回波相关参数（深度D、水平P、距离S、波幅H）
自由切换三种标尺（深度D、水平P、距离S）
多个独立探伤通道，可自由输入并存储任意行业的探伤标准（可根据用户需求扩展）；
自动计算缺陷当量φ值；
三种探头方式：单晶、双晶、穿透；
回波抑制；
自动增益、回波包络功能提高了探伤效率；
斜探头角度和K值两种输入方式；
闸门声光报警。
利用PC通讯软件可以升级仪器系统的功能；
锂电池供电，可连续工作10小时；
技术参数：
| Leeb521 |
屏幕显示 | 彩显 |
扫描范围 | 0 ~ 10000 |
垂直线性误差 | ≤2% |
水平线性误差 | ≤0.1% |
探伤灵敏度余量 | ≥60dB（深200mnφ2平底孔） |
动态范围 | ≥32dB |
分辨率 | ≥40dB |
频率范围（MHz） | 0.5 ~ 20 |
增益调节（dB） | 0 ~ 120 |
B扫 | 无 |
两孔测试法 | 无 |
探伤录像 | 有 |
PC通讯 | 有 |
三防功能 | 有 |
DAC/AVG曲线 | 有 |
材料声速（m/s） | 1000 ~ 9999 |
回波抑制 | 0 ~ 80% |
工作温度（℃） | -27 ~ 70 |
外形尺寸（mm） | 240*160*40 |
重量（Kg） | 1150g |
标准配置 | 主机、电源适配器、直探头、斜探头、探头连接线 |
可选配件 | 通讯软件、数据线、探伤试块、探头、探头连接线 |
