x射线测厚仪主要用于测量设备的生产中*的极薄膜、多层膜乃至半导体晶圆的硅胶基板厚度，膜厚仪可满足用户各种各样的需求。基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。
 

　　X射线膜厚测试机采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。
 

　　在膜厚测量电路中，正弦振荡器IC1、IC2产生频率为1-100kHz的正弦波，加在变压器B1初级上，次级输出的正弦信号加到桥式电路的输入端，由该桥路在非平衡状态下获取金属材料表面的涡流变化;涡流变化量由检测放大器IC3进行适当放大，再经交流放大器IC4和IC5放大数十倍后，经转换电路将涡流变化量转换为膜厚，由指示仪表显示。
 

　　X射线膜厚测试机的产品特点有哪些?下面让我们一起来了解一下吧：
 

　　1、该膜厚仪严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
 

　　2、测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
 

　　3、支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
 

　　4、实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据
 

　　5、配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
 

　　6、支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能
 

　　7、微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板
 

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