Thick800A应用优势：

1. 针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;

2. 软件可分析最高5层25种元素镀层;

3. 通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求;

4. 配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的精准分析;

5. 内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态;

6. 高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。

7. 通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求;

8. 配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的精准分析;

8. 内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态;

9. 高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。