工作原理：

   对于X射线，在其穿透被测材料后，X射线强度 I 的衰减规律为  I=Ioe -μd，Io 为初始射线强度，I 为穿过物体后的射线强度，μ 为吸收系数，d 为射线穿过的厚度（克重）；当 μ 和 Io 一定时，I 仅仅是被测材料 d 的函数，所以测出 I 就可以知道厚度（克重）d。X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测物所吸收的X射线能量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度（克重）。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由处理系统转换为可供人们观看的实际厚度的数值或图形。

产品优势：

☆采用X射线传感器，灵活适应各行业品种多、工艺复杂、质量要求严苛的使用环境，设备获国家环保豁免，无需申请及备案，使用方便

☆高精度“O”型扫描架和电机控制

☆具有导轨自动补偿功能

☆高清洁设计，不会对被测产品造成任何污染

☆上下探头机械误差：±0.03mm； 扫描定位精度：1mm； 测量速度：2500个测量值/秒

技术参数:

    测量范围：10 〜 6000μm

    再现性：±0.10gsm或±0.025%，以较高者为准

    扫描速度：1.0 〜 6m/min

    供电电压：AC220   500W

工作温度：0-50 ℃

系统的反应时间：≤ 0.5 秒

应用领域：

    塑料薄膜 薄板 片材 人造革

    金属压延：铝箔 铜箔 钢带

    复合材料：涂布 淋膜等

织物与无纺布  

纸张

橡胶板  

玻璃