品牌
其他厂商性质
沈阳市所在地
Vanta手持式XRF分析仪
面议手持式合金光谱仪 Delta DE-2000
面议手持式合金光谱仪 Delta DPO-2000
面议德国斯派克便携式XRF
面议德国斯派克偏振 XRF
面议德国斯派克便携式能量色散X射线光谱仪SPECTROS COUT
面议德国斯派克 小焦点偏振能量色散XRF(MIDEX)
面议德国斯派克全谱电感耦合等离子体发射光谱仪 ICP(GENESIS)
面议德国斯派克全谱电感耦合等离子体发射光谱仪 ICP(ARCOS)
面议SPECTRO- XEPOS 偏振能散X荧光仪
面议德国斯派克全谱电感耦合等离子体发射光谱仪ICP(BLUE)
面议德国斯派克落地式直读光谱仪SPECTRO MAXx(LMX07)
面议时代TT260涂层测厚仪
功能特点:
●本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
●可使用7 种测头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
●具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
●具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)
●设有五个统计量:平均值(MEAN)、值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
标准配置:
主机、打印机、F头或N头、标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)、铁基体或铝基体、充电器
可选附件:
探头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)、通信线缆、通信软件
产品概述:
本仪器是一种便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要。本仪器符合以下标准: GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
产品用途:
本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。
功能特点:
●本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
●可使用7 种测头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
●具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
●具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)
●设有五个统计量:平均值(MEAN)、值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
●可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
●具有存贮功能:可存贮495 个测量值;
●具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
●设置限界:对限界外的测量值能自动报警;并可用直方图对一批测量值进行分析
●具有打印功能:可打印测量值、统计值、限界、直方图;
●具有与PC 机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC 机,以便对数据进行进一步处理;
●具有电源欠压指示功能;
●操作过程有蜂鸣声提示;
●具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示;
●设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式
产品应用:
技术参数:
测头型号 | F400 | F1 | F1/90° | F10 | N1 | CN02 | ||
工作原理 | 磁 感 应 | 涡 流 | ||||||
测量范围(mm) | 0~400 | 0~1250 | 0~1250 | 0~10000 | 0~1250(铜上镀铬0~40) | 10~200 | ||
低限分辨力(mm) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
示值 | 一点校准(mm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | ||
误差 | 二点校准(mm) | ±((1~3)%H+0.7) | ±((1~3)%H+1) | ±((1~3)%H+1) | ±((1~3)%H+10) | ±[(1~3)%H+1.5] |
| |
测 试 条 件 | 最小曲率半径(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 10 | 3 | 仅为平直 |
最小面积的直径(mm) | F3 | F7 | F7 | F40 | F5 | F7 | ||
基体临界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 无限制 |
测头选用参考表:
覆盖层
基体 | 有机材料等非磁性覆盖层(如漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等) | 非磁性的有色金属的覆层 (如铬、锌、铝、铜、锡、银等) | |||
覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | 覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | ||
如铁、钢等磁性金属 | 被测面积的直径大于30mm | F1型测头0-1250μm F400型测头0-400μm | F1型测头0-1250μm F10型测头0-10mm | F400型测头0-400μm F1型测头0-1250μm | F1型测头0-1250μm F10型测头0-10mm |
被测面积的直径小于30mm | F400型测头0-400μm | F1型测头0-1250μm F400型测头0-400μm | F400型测头0-400μm | F400型测头0-400μm F1型测头0-1250μm | |
如铜、黄铜、铝、锌、锡等有色金属 | 被测面积的直径大于5mm | N1型测头0-1250μm | N1型测头只能测铜上镀铬0-40μm | ||
塑料、印刷线路板等非金属基体 | 被测面积的直径小于7mm | - | - | CN02型测头10-200μm (主要用途测铜箔厚度) |