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TEG-Tester 热电转换效率测量系统——热电器件和帕尔贴元件测试仪
面议气体计量系统(GDS) Gas Dosing Systems (GDS)
面议TFA-薄膜的表征 导热系数、电阻率、电导率、塞贝克效应,薄膜的霍尔效应和辐射
面议GSA PT 100重力吸附分析仪
面议磁悬浮天平 热重分析仪(TGA)
面议DTA PT1600 差热分析仪
面议TGA PT1000 热重分析仪
面议TGA PT 1600 热重分析仪
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面议TIM - Tester 热界面材料测试系统
面议LFA 500 热扩散/导热系数测试仪——易操作且快速的通用型导热仪
面议TF-LFA薄膜激光闪射装置(热扩散系数) 激光闪射测量(from 80 nm up to 20 µm)
面议磁悬浮天平LINSEIS MSB PT 1适用于宽泛的温度和压力范围内进行腐蚀性介质环境下的重量测量。该磁悬浮天平由记录测量值的天平、承载样品重量的悬浮连接器,磁悬浮位移测量传感器以及悬浮控制单元组成。
样品重量的非接触式传输是通过一个悬浮磁体和吸持磁体实现。悬浮磁体由永磁体构成,而吸持磁体由天平上悬挂的电磁铁构成。位移传感器控制悬浮磁铁的准确位置,PID控制器通过电磁力的制动变量维持一个稳定的悬浮位置。通过磁耦合,微平衡可在各种环境条件下工作,免受高温,压力和腐蚀性介质影响。
金属测量系统
金属版可用于多种领域。可以在超高真空到150bar以及温度范围从-196—2400°C进行测量。此外,利用特殊涂层的测量室可以测试腐蚀性和有毒的介质。
玻璃测量系统
玻璃版可用于高腐蚀性介质的测量。测量室中的敏感的部分,例如悬浮磁体和带有铁芯的位置传感器,封装在玻璃内。磁性耦合和自动去耦合功能与金属版类似。可在温度900 ℃,压力1.3 bar下工作。
密度
基于阿基米德原理,磁悬浮天平也可以测量密度。已知体积测量质量。通过样品的浮力计算密度。由于磁悬浮天平结构紧凑,可以在很宽泛的温度和压力范围内测量密度。
型号 | 金属反应腔 | 玻璃反应腔 | |
温度范围 | -196 -- 2400°C | 900°C | |
压力范围 | UHV* -- 150 bar | Vacuum -- 1.3 bar | |
样品质量 | 10 g (标准天平) | 10 g (标准天平) | |
分辨率 | 1 ug | 1 ug | |
逸出气体分析 | 可用MS/FTIR | 可用MS/FTIR | |
Options: | 可根据不同需求定制不同版本的仪器。 |
*UHV :超高真空
所有的LINSEIS热分析设备都是用计算机控制的,各个软件模块仅在Microsoft® Windows®操作系统上运行。完整的软件包括3个模块:温度控制,数据采集和数据分析。与其他热分析系统一样,该用于STA的32位Linseis软件可以实现所有测量准备、实施和评估的基本功能。经过专家和应用工程师的努力,LINSEIS开发出这款容易操作且实用的软件。