品牌
其他厂商性质
所在地
气体计量系统(GDS) Gas Dosing Systems (GDS)
面议TFA-薄膜的表征 导热系数、电阻率、电导率、塞贝克效应,薄膜的霍尔效应和辐射
面议GSA PT 100重力吸附分析仪
面议磁悬浮天平 热重分析仪(TGA)
面议DTA PT1600 差热分析仪
面议TGA PT1000 热重分析仪
面议TGA PT 1600 热重分析仪
面议STA HP3 高温高压同步热分析仪——桌面式高压TGA-DSC
面议TIM - Tester 热界面材料测试系统
面议LFA 500 热扩散/导热系数测试仪——易操作且快速的通用型导热仪
面议TF-LFA薄膜激光闪射装置(热扩散系数) 激光闪射测量(from 80 nm up to 20 µm)
面议STA HP 高压同步热分析仪-高温/高压TGA-DSC
面议热功率、热电势、或塞贝克系数描述的都是材料在一定温差条件下产生感应热电电压的大小,单位是V/K。
近年来直接将热能转化成电能的方法引起人们的广泛兴趣。通过热电装置收集热发动机和燃烧系统余热并转换成电能可以节省数十亿美元。
为了应对一系列挑战性的应用,Linseis已经开发出LSR-3 Seebeck系数/电阻率测试系统用于分析材料和器件的特性。
测量原理:
圆柱形或棱柱形的试样垂直放置的两个电极之间,下部电极块包含一个加热器。整个测量装置放置在炉体中。将整个炉体和样品加热到特定的温度,在此温度下利用电极块中的二级加热器建立一组温度梯度,然后两个接触热电偶测量温度梯度T1和T2。*的热电偶接触机制保证了以的温度精度测量每个热电偶上每条导线电动势dE。
四端法测量电阻,样品两端通入恒定电流(I),测量样品电压的变化,可以测量出电阻系数。
型号 | LSR-3 |
温度范围 | -100 至 500℃ RT 至 800/1100/1500℃ |
测量原理 | 赛贝克系数:静态直流法 电阻率:四端法 |
气氛 | 惰性,氧化,还原,真空 |
样品支架 | 三明治结构夹与两电极之间 |
样品尺寸(圆柱形或棱柱形) | 2 至 5 mm(面宽),23mm φ6mm,23mm |
样品尺寸(圆盘状) | 10, 12.7, 25.4 mm |
可调探头距离 | 4, 6, 8 mm |
冷却水 | 需要 |
赛贝克系数测量范围 | 1至2500μV/K 准确度±7%;重复性±3% |
电导率测量范围 | 0.01 至 2*105s/cm 准确度±5-8*%;再现性±3% |
电源 | 0到160mA,具长期稳定性 |
电极材料 | 镍(-100至500°C)/铂(-100至+1500°C) |
热电偶 | K/S/C型 |
所有的LINSEIS热分析设备都是用计算机控制的,各个软件模块仅在Microsoft?Windows?操作系统上运行。完整的软件包括3个模块:温度控制,数据采集和数据分析。与其他热分析系统一样,该用于LSR的32位Linseis软件可以实现所有测量准备、实施和评估的基本功能。经过专家和应用工程师的努力,LINSEIS开发出这款容易操作且实用的软件。
Linseis LSR-3附件:
半导体、金属与合金
汽车/航空/航天,开发研究和学术研究,半导体行业/传感器/热电发电机/制冷设备
典型的含碲化合物热电材料在室温至200 ℃温度范围进行测试,电阻率和Seebeck系数在该温度区间的曲线见下图。