纳米粒度仪及zeta电位分析仪BOS系列用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小,其表面的晶体结构发生变化,从而在电学、光学和化学活性等方面表现出dute的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数,准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数,Zeta电位越高,胶体系统就越稳定,反之,Zeta电位越低,胶体系统稳定性就越差,因此通过测量和调整体系的Zeta电位,就可以控制胶体的稳定性,广泛应用于产品开发、生产、质量控制以及科学研究,以便深入了解产品特性。

纳米粒度仪及zeta电位分析仪技术特点:

1、全光纤光路:利用全光纤光路替代分立光路,使参考光和散射光信号不再受灰尘和杂散光的干扰,显著提高了信噪比和抗干扰能力。  
      2、背散射光路:使用背散射光路减小散射光程,减弱多次散射光,进而可以测量高浓度样品的颗粒粒度。  
      3、大动态范围高速数字相关器:采用高速、低速通道搭配的光子相关器,有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾,实时获取动态范围大、基线稳定的相关函数。  
      4、数据筛选功能:引入分位数检测异常值的方法,鉴别受灰尘干扰的散射光数据,并剔除异常值,提高粒度测量结果的准确性。  
      5、多角度数据反演:从多个不同的散射角度采集散射光强,可以获得更多的颗粒粒度信息,并将多个自相关函数结合到一个数据分析中,提高颗粒粒度分布的准确性。  
      6、温度趋势分析:按照设定的温度范围,自动进行粒度和Zeta电位测量,检测样品粒度或电位的温度趋势。  
      7、毛细管样品池:使用改进型平底U形毛细管样品池测量Zeta电位,由于样品池底部是水平的,从而使得电场强度比传统的毛细管样品池更加均匀,减少测量误差,进而提高Zeta电位的测量精度与重复性。  
      8、相位分析光散射技术(PALS):通过测量光拍信号的相位变化来获得颗粒的Zeta电位,测量分辨率比电泳光散射法高两个数量级。  
      9、数据输出:提供数据输出功能,方便用户以自定义的图、表方式查看、对比测量结果  
     10、标准化操作:软件具有标准化操作(SOP)功能,让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行,测量结果更具可比性。  
     11、智能化测量:自动调整散射光强,自动优化光子相关器参数,以适应不同样品,让测量变得如此轻松。  
     12、法规软件:软件符合FDA 21CFR Part11的要求,可设置/修改用户组的访问权限,具有电子记录/电子签名和审计跟踪功能,wanquan符合制药企业的法规要求。