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4．环形高效 In-lens SE 探测器，具有良好的分辨率和对称性。 5．电磁/静电式复合物镜，可对磁性物质进行高分辨成像。 分辨率：1.0nm @ 15kV 1.7nm @ 1kV 4.0nm @ 0.1kV 放大倍数：12 ~ 900,000x 加速电压：0.1 ~ 30kV 可分析元素范围：4Be～94Pu 二次电子形貌（SEI）、背反射成分像/形貌像（BEI）、吸收电子图象、能谱成份图象分析 1、金属、非金属及复合材料、生物样品表面形貌、组织结构的观察分析及图象处理 2、纳米材料：纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量分析 3、微区成分的定性、定量分析，并对重点区域做元素分布图 4、颗粒样品粒径、面积、周长、圆度的测量，提供粒度分布图，并可对孔径样品做孔径分布直方图、饼图 5、可对固体材料的表面涂层、镀层进行结合情况观察和厚度测量
SUPRATM 55采用了的GEMINI镜筒设计和环形IN-LENS SE 探测器，具有束流稳定、分辨率高的特点，配有牛津X-射线电制冷能谱仪，能同时进行导电样品和非导电样品的高分辨成像及元素成分分析。 仪器简介： 仪器主要特点： 1．肖特基(Schottky)场发射电子源，具有较大的发射电流和*的稳定性。 2．采用技术 GEMINI 镜筒，克服传统单极物镜光阑设计缺点，消除磁性影响，同时采用无交叉光路设计，提高了仪器的主要性能。 3．采用 Beam booster（电子束加速器），以得到的低加速电压性能。 主要技术指标： 主要性能： 主要功能： 主要用途： 广泛用于冶金、生物、建筑、机械等行业的材料形貌观察及元素成分分析，如金属、半导体、陶瓷、高分子材料、有机聚合物等。本电镜配备有牛津X射线能谱分析仪。
