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JYBDG-3000A能量色散X荧光光谱仪
X射线发生器放出的X射线与样品中元素的原子相互作用,逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时,会放射该原子所固有能量的X射线-特征X射线。根据受激后退激过程中所放出的特征X射线能量各不相同,依此进行定性分析;根据特征X射线强度大小,可进行定量分析。
探测器采用半导体探测器,能量分辨率优于149ev;
真空测量,大限度的提高测量元素的检测限,有利于卤素测量;
自动调整光管功率,对激发轻元素和中重元素都有良好的激发效果;
圆形品仓设计,适应于各种样品的检测,可以测量固体、液体、粉末;
开放式工作曲线标定平台,可量身定做有害物质检测和控制方案;
采用XRF分析软件,融合了包括经验系数法、基本参数法(FP法)、理论α系数法等多种经典分析方法,全面保证测试数据的准确性。
采用模式识别及数据库技术,实现仪器分析智能化;
配置滤光片装置大幅提高峰背比;
校正方式:采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据;
可根据用户要求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF等),符合工厂多种统计及格式要求。
可以在ROHS分析软件上开展不锈钢、合金、贵金属及全元素分析。
一体化设计,性能稳定,运行可靠,性价比高;
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素(Pb、Hg、Br、Cd、Cr)检测;
分析元素范围:Mg-U;
元素含量分析范围:1ppm -99.9%;
Si (PIN)半导体探测器计数,能量分辨率优于140eV;
测量范围:1-30KeV;
重复性: >65% >97%(N为计数率);
正高压:5kV-50kV;管流:1μA-500μA;
真空泵额定功率:550W;
仪器额定功率:50W;
整机能量分辨率:145eV;
检测时间:120S~600S(时间随样品而调整);
10秒钟真空度可达10-2Pa ,高真空区域10-1-10-5Pa;
检出限:Cd/Cr/Hg/Br/Pb≤5ppm,Cl≤20ppm;
仪器重量:40Kg;
仪器尺寸:700(W)* 400(D)*430(H)mm;
1 主机1台(大功率钨靶X光管、50KV正高压电源、进口Si (PIN)电致冷半导体探测器、2048道分析器)
2 压样模具1套
3 真空系统1套
4 压样机1套
5专用软件1套
6 品牌计算机1套
7 激光打印机1台
8 吸尘器1台
9 随机配件1套