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量子效率测量系统 QE-2000/2100
产品信息 特 点 测量精度高 可瞬间测量量子效率（量子收率） 可去除再激励荧光发光 采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系 采用了低迷光多通道分光检出器，大大减少了... 参考价面议 -
光谱椭偏仪 FE-5000/5000S
产品信息 特点 可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数 可分析纳米级多层薄膜的厚度 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱 通过可变反射角测量，可详细分析... 参考价面议 -
高速延迟测量装置 RE-200
产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的测量项目少，测量简单... 参考价面议 -
相位差测量装置 RETS-100nx New
产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备 测量项目... 参考价面议 -
液晶层间隙量测设备 RETS series
产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备 测量项目... 参考价面议 -
彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series
产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置 可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板... 参考价面议 -
高速LED光学特性仪 LE series
产品信息 特 点 与产线的控制信号同步 通过光纤的自由的测试系统 实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400） 同以往的产品相比，测量・演算・评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型 测量... 参考价面议 -
高感度分光放射亮度仪 HS-1000
产品信息 特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） *的光学系... 参考价面议 -
全光束测量系统 HM/FM series
产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从250毫... 参考价面议 -
显微分光膜厚仪 OPTM series
产品信息 特点 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外） 区... 参考价面议 -
超高速分光涉式膜厚仪
以非接触方式测量晶圆等的研磨和抛光工艺，超高速、实时、高精度测量晶圆和树脂 产品详细信息 特点 非接触式，非破坏性厚度测量 反射光学系统（可从一侧接触测量） 高速（... 参考价面议 -
嵌入式膜厚仪 FE-5000/5000S
产品信息 特点 可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数 可分析纳米级多层薄膜的厚度 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱 通过可变反射角测量，可详细分析... 参考价面议