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一、实验内容：
1、观察发光的光源在磁场的作用下，光源所发出的每条谱线皆被分裂成偏振化的分谱线，即塞曼效应；
2、测量其分裂后的谱线波长差，来求得电子的荷质比（e/m）的值。
二、主要技术参数：
由框架式纯铁制成，该电磁铁磁场均匀稳定、360°旋转，调整极为方便。可观察(拍)9个明显的塞曼分裂谱线。
1、标准具采用高精技术多层镀膜；
通光口径：40mm，中心波长:λ=5461Å分辨率:λ/Δλ≥1×105，反射率: R≥90%，平面度：λ/30，石英隔圈2㎜；
2、望远系统：读数精度0.01mm；
3、磁场感应强度：0-12000高斯，磁轭体积：250×140×200㎜；
4、单路可调式直流稳压稳流电源；
5、标准具微动调整架：前后俯仰三维调节方便可调。
